[发明专利]一种阵列式微流控芯片的荧光采集分析方法有效

专利信息
申请号: 201711369712.0 申请日: 2017-12-19
公开(公告)号: CN108181478B 公开(公告)日: 2021-01-05
发明(设计)人: 李桦楠;帕维尔·诺伊茨尔;徐颖;张浩卿 申请(专利权)人: 西北工业大学
主分类号: G01N35/00 分类号: G01N35/00
代理公司: 西北工业大学专利中心 61204 代理人: 吕湘连
地址: 710072 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种阵列式微流控芯片的荧光采集分析方法,属于微全分析技术领域。该方法通过芯片边缘的十字标记,可以计算得到整体芯片的偏转角度,在后期处理每张图片时,可以根据该计算好的角度进行相应的旋转操作,避免了手动操作测量所带来的繁琐步骤以及时间上的消耗;根据间隔容易区分每块微反应腔部分,采取分块采集图像并分析的方法,避免了拼接以及其他因素带来的误差,保留了图片原有性质;解决了阵列式微流控芯片式生物反应的荧光信息检测问题,为快速数字微流体诊断系统铺路。
搜索关键词: 一种 阵列 式微 芯片 荧光 采集 分析 方法
【主权项】:
1.一种阵列式微流控芯片的荧光采集分析方法,其创新点在于:该方法的步骤如下:步骤1:阵列式微流控芯片的制作;阵列式微流控芯片为我们利用微纳米加工技术制作出的带有特殊标记的微孔型芯片,其整体尺寸为N*N㎜,区域A为微反应腔的部分,边缘尺寸为M*M㎜,区域A分为T块,分别用A1、A2、……、AT表示,T块Ai结构大小(大小为m*n)完全相同,并且相邻两块之间的间隔为1~22μm之间,在芯片边缘和微反应腔A边缘构成的环形区域内有六个特殊的十字标记P1,P2,P3,P4,P5,P6,规定芯片上与P1最接近的顶点为坐标原点,P1、P2中心点连线并指向P2的方向为x正方向,P1、P5中心点连线并指向P5的方向为y正方向,若设P1的中心坐标为P1(a,b)(0
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