[发明专利]一种快速正反馈主动移频式孤岛检测方法

摘要

本发明公开了一种快速正反馈主动移频式孤岛检测方法，结合传统的正反馈主动移频式孤岛检测原理，在此算法基础上叠加反馈移频的二次方项进行改进，并阐述了其工作原理及对微电网系统的影响。通过理论分析及仿真验证表明改进算法后的正反馈主动移频式孤岛检测是可行的，缩短了孤岛检测时间，减小了检测盲区，提高了检测效率，理论上不会对微电网系统带来新的谐波污染。

主权项

一种快速正反馈主动移频式孤岛检测方法，其特征在于，算法的表达式为：cfs＝cf0+k(f‑fg)+[k(f‑fg)]2·sign(f‑fg)其中当(f‑fg)≥0时，sign(f‑fg)＝1；当(f‑fg)＜0时，sign(f‑fg)＝‑1；算法的盲区坐标范围表达式：tan[π2cf0+π2k×0.5+π2(k×0.5)2]Qf0-1fg+1<Cnorm<tan[π2cf0-π2k×0.5-π2(k×0.5)2]Qf0+1fg+1]]>ΔCnorm={tan[π2cf0-π2k×0.5-π2(k×0.5)2]Qf0+1fg+1}-{tan{π2cf0-π2k×0.5-π2(k×0.5)2}Qf0-1fg+1}]]>其中用描述微网系统品质因数特性的Qf0及描述微网电容特性的Cnorm分别表示盲区范围坐标中的横轴及纵轴分量，即Qf0×Cnorm，算法的盲区坐标范围表达式中数值0.5表示微网系统电压频率允许波动范围设定为±0.5Hz，易知在初始截断系数cf0取值相同的情况下频率正反馈系数k值决定着盲区的大小，通过在检测算法中叠加反馈移频的二次方项即[k(f‑fg)]2·sign(f‑fg)，实际上将会对盲区范围进行缩小，且随着k取值的合理增大检测盲区逐渐缩小，若要实现检测无盲区需使得算法的盲区坐标范围表达式中△Cnorm<0，同时根据反馈增强原理，其检测速度相应也会提高。