[发明专利]一种发光材料的检测方法在审
| 申请号： | 201711379300.5 | 申请日： | 2017-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN108181332A | 公开（公告）日： | 2018-06-19 |
| 发明（设计）人： | 谷亚男 | 申请（专利权）人： | 大连智讯科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/207 | 分类号： | G01N23/207;G01N21/64;G01N21/25;G01N1/28 |
| 代理公司： | 盘锦大工智讯专利代理事务所(特殊普通合伙) 21244 | 代理人： | 徐淑东;崔雪 |
| 地址： | 116000 辽宁省大连*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明提供一种发光材料的检测方法，包括：(1)取待测的发光材料，进行研磨；(2)对发光材料进行XRD检测：将研磨后的发光材料置于XRD检测仪中进行检测，得到发光材料的XRD图谱，将XRD图谱与标准卡片进行比对，确定发光材料的基质成分；(3)对发光材料进行激发光谱检测：将研磨后的发光材料置于荧光光谱仪中进行激发光谱检测，得到发光材料的激发光谱；(4)对发光材料进行发射光谱检测：将研磨后的发光材料置于荧光光谱仪中进行发射光谱检测，得到发光材料的发射光谱；(5)对发光材料的激发光谱和发射光谱进行分析，确定发光材料的掺杂成分以及发光性质。本发明方法能够减小发光材料检测误差、提高实验效率。 | ||
| 搜索关键词： | 发光材料 检测 发射光谱 激发光谱 研磨 荧光光谱仪 标准卡片 发光性质 检测误差 实验效率 检测仪 比对 基质 减小 掺杂 分析 | ||
【主权项】：
1.一种发光材料的检测方法，其特征在于，包括：(1)取待测的发光材料，进行研磨；(2)对发光材料进行XRD检测：将研磨后的发光材料置于XRD检测仪中进行检测，得到发光材料的XRD图谱，将XRD图谱与标准卡片进行比对，确定发光材料的基质成分；(3)对发光材料进行激发光谱检测：将研磨后的发光材料置于荧光光谱仪中进行激发光谱检测，得到发光材料的激发光谱；(4)对发光材料进行发射光谱检测：将研磨后的发光材料置于荧光光谱仪中进行发射光谱检测，得到发光材料的发射光谱；(5)对发光材料的激发光谱和发射光谱进行分析，确定发光材料的掺杂成分以及发光性质。
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