[发明专利]提升寄生光灵敏度的方法有效

专利信息
申请号: 201711384884.5 申请日: 2017-12-20
公开(公告)号: CN108040252B 公开(公告)日: 2019-11-15
发明(设计)人: 石文杰;陈超林;邵泽旭;任冠京;刘芃宇 申请(专利权)人: 思特威(上海)电子科技有限公司
主分类号: H04N17/00 分类号: H04N17/00;H04N5/378;H04N5/361
代理公司: 31237 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人: 王仙子<国际申请>=<国际公布>=<进入
地址: 200233上海市徐*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种提升寄生光灵敏度的方法,用于提升电压域8T全局快门像素结构的寄生光灵敏度,包括步骤:提供电压域8T全局快门像素结构,包括依次相连的感光二极管、相关双采样读取电路、相关双采样保持电路及相关双采样输出电路,相关双采样保持电路包括第一MOS管开关、第二MOS管开关、第一电容及第二电容;通过调整相关双采样保持电路中的MOS管开关的结构,对第一电容的漏电流Isigleak或第二电容的漏电流Irstleak进行补偿调节,使得Csig*Irstleak=Crst*Isigleak。本发明通过调整MOS管开关的沟道/有源区的物理形状或尺寸,或通过离子注入手段调整MOS管开关的沟道/有源区的物理电学性质,来补偿调节存储电容的漏电流,能有效消除电容漏电对相关双采样输出电压的影响,提升寄生光灵敏度。
搜索关键词: 提升 寄生 灵敏度 方法
【主权项】:
1.一种提升寄生光灵敏度的方法,用于提升电压域8T全局快门像素结构的寄生光灵敏度,其特征在于,所述方法包括步骤:/n提供电压域8T全局快门像素结构,所述电压域8T全局快门像素结构包括相关双采样保持电路,所述相关双采样保持电路包括第一MOS管开关、第二MOS管开关、第一电容及第二电容,所述第一MOS管开关与所述第二MOS管开关串联,所述第一电容一端接地、另一端通过第一有源区与所述第一MOS管开关及所述第二MOS管开关相连,所述第二电容一端接地、另一端通过第二有源区与所述第二MOS管开关相连;以及/n调整所述相关双采样保持电路中与所述第一电容相连的MOS管开关的结构对所述第一电容的漏电流进行补偿调节,或调整所述相关双采样保持电路中与所述第二电容相连的MOS管开关的结构对所述第二电容的漏电流进行补偿调节,使得两个电容的漏电流满足公式Csig*Irstleak=Crst*Isigleak,式中,Csig表示所述第一电容的电容值,Crst表示所述第二电容的电容值,Isigleak表示所述第一电容的漏电流,Irstleak表示所述第二电容的漏电流。/n
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