[发明专利]智能卡的测试系统、测试设备、测试方法在审
| 申请号： | 201711387672.2 | 申请日： | 2017-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN108197019A | 公开（公告）日： | 2018-06-22 |
| 发明（设计）人： | 张洁;陈超;张志红 | 申请（专利权）人： | 大唐微电子技术有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G06F11/26 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 孙敬霞;龙洪 |
| 地址： | 100094*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本文公开了一种智能卡的测试系统、测试设备、测试方法，至少能够缩短测试系统中测试用例的开发周期，降低维护成本。上述智能卡的测试系统可包括如下组件：测试用例库，包含基于Python语言的测试用例，所述该测试用例用于实现对智能卡的测试操作；基于Python语言的测试工具，配置为完成如下测试操作以实现对所述智能卡的测试：针对读写设备的操作；Shell中执行APDU指令或Python语句；运行所述测试用例；导入所述测试用例或所述测试用例库。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 智能卡 测试系统 测试用例库 测试操作 测试设备 测试工具 读写设备 开发周期 语句 配置 维护 | ||
【主权项】：
1.一种智能卡的测试系统，运行于计算机，所述计算机通过读写设备与智能卡连接，其特征在于，所述测试系统包括如下组件：测试用例库，包含基于Python语言的测试用例，所述该测试用例用于实现对智能卡的测试操作；基于Python语言的测试工具，配置为完成如下测试操作以实现对所述智能卡的测试：导入所述测试用例或所述测试用例库；运行所述测试用例；针对读写设备的操作。
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