[发明专利]调试装置及调试方法在审

专利信息
申请号: 201711387775.9 申请日: 2017-12-20
公开(公告)号: CN108226764A 公开(公告)日: 2018-06-29
发明(设计)人: 周学文;肖翔 申请(专利权)人: 北京松果电子有限公司
主分类号: G01R31/3185 分类号: G01R31/3185;G01R1/04
代理公司: 北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447 代理人: 魏嘉熹;南毅宁
地址: 100085 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本公开涉及一种调试装置及调试方法,属于电子设备调试领域,能够简化移动终端的调试环境,以很小的成本和代价实现移动终端的快速调试,且不会对移动终端带来破坏性。该调试装置包括JTAG接口和USB接口,所述JTAG接口包括测试时钟输入引脚、测试模式选择引脚、测试数据输入引脚和测试数据输出引脚,所述USB接口包括第一超速传输引脚、第二超速传输引脚、第三超速传输引脚和第四超速传输引脚,其中,所述测试时钟输入引脚、所述测试模式选择引脚、所述测试数据输入引脚和所述测试数据输出引脚分别与所述第一超速传输引脚、所述第二超速传输引脚、所述第三超速传输引脚和所述第四超速传输引脚连接。
搜索关键词: 引脚 超速 传输 调试装置 移动终端 调试 测试数据输出引脚 测试数据输入引脚 测试模式选择 测试时钟 输入引脚 电子设备 调试环境
【主权项】:
1.一种调试装置,其特征在于,该调试装置包括JTAG接口和USB接口,所述JTAG接口包括测试时钟输入引脚、测试模式选择引脚、测试数据输入引脚和测试数据输出引脚,所述USB接口包括第一超速传输引脚、第二超速传输引脚、第三超速传输引脚和第四超速传输引脚,其中,所述测试时钟输入引脚、所述测试模式选择引脚、所述测试数据输入引脚和所述测试数据输出引脚分别与所述第一超速传输引脚、所述第二超速传输引脚、所述第三超速传输引脚和所述第四超速传输引脚连接。
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