[发明专利]一种X射线吸收谱测量装置及测量方法在审
| 申请号： | 201711389552.6 | 申请日： | 2017-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN107941836A | 公开（公告）日： | 2018-04-20 |
| 发明（设计）人： | 刘涛;唐跃强;黄翀 | 申请（专利权）人： | 长沙新材料产业研究院有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 长沙正奇专利事务所有限责任公司43113 | 代理人： | 郭立中 |
| 地址： | 410205 湖南省*** | 国省代码： | 湖南;43 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种新型的X射线吸收谱测量装置，通过集成荧光探测装置和样品安放装置来实现，在实践中与X射线源、电流放大装置和处理器共同联用。荧光探测装置的第一探测模块为光电二极管(PIN‑diode)。在被测样品与荧光探测装置之间安置可过滤电子的过滤膜。测量装置内集成样品安放装置，采用掠入射几何，与X射线的夹角范围为1‑4°。通过大面积探测器、过滤膜、掠入射几何的结合，可实现材料X射线吸收谱的有效检测，相对于传统的探测器来说，探测灵敏度和探测效率都有大幅提升。本发明还提供一种X射线吸收谱测量方法。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射线 吸收 测量 装置 测量方法 | ||
【主权项】：
一种X射线吸收谱测量装置，其特征在于：包括用于放置被测样品(20)的样品安放装置(8)，所述被测样品(20)接收X射线并发出荧光信号；还包括用于探测所述荧光信号的荧光探测装置(6)以及与荧光探测装置(6)的输出电连接的处理器(10)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于长沙新材料产业研究院有限公司，未经长沙新材料产业研究院有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201711389552.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
