[发明专利]一种低相噪光频梳附加噪声的测量装置有效
申请号: | 201711393166.4 | 申请日: | 2017-12-21 |
公开(公告)号: | CN108120884B | 公开(公告)日: | 2020-09-18 |
发明(设计)人: | 阎栋梁 | 申请(专利权)人: | 北京无线电计量测试研究所 |
主分类号: | G01R29/26 | 分类号: | G01R29/26;G01R23/16 |
代理公司: | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人: | 付生辉 |
地址: | 100854 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种低相噪光频梳附加噪声的测量装置,包括:第一光频梳、第二光频梳、超稳光源、第一隔离器、第二隔离器、衰减器、第一移相器、耦合器、第一滤波器、第三隔离器、第一放大器、第二滤波器、第二放大器、第二移相器、混频器、低通滤波器、基带放大器和FFT测试仪。本发明的低相噪光频梳附加噪声的测量装置为基于自相关法的载波抑制系统,通过载波抑制后,混频器和低噪声放大器的噪声对测量结果没有影响;并且光电探测器PD的噪声在测量结果中会被相关去除,对测量结果没有影响;解决低相噪光频梳附加噪声的测量问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 低相噪光频梳 附加 噪声 测量 装置 | ||
【主权项】:
一种低相噪光频梳附加噪声的测量装置,其特征在于,包括:第一光频梳、第二光频梳、超稳光源、第一隔离器、第二隔离器、衰减器、第一移相器、耦合器、第一滤波器、第三隔离器、第一放大器、第二滤波器、第二放大器、第二移相器、混频器、低通滤波器、基带放大器和FFT测试仪;第一光频梳的光参考端与超稳光源的参考输出1端连接,第一光频梳的射频端与第一隔离器的输入端连接;第一隔离器的输出端与衰减器的输入端连接;衰减器的输出端与耦合器的输入1端连接;第二光频梳的光参考端与超稳光源的参考输出2端连接,第二光频梳的射频端与第二隔离器的输入端连接;第二隔离器的输出端与第一移相器的输入端连接,第一移相器的输出端与耦合器的输入2端连接;耦合器的差分1端与第一滤波器的输入端连接;第一滤波器的输出端与第一放大器的输入端连接;第一放大器的输出端与混频器的本振端连接;耦合器的差分2端与第三隔离器的输入端连接;第三隔离器的输出端与第二滤波器的输入端连接;第二滤波器的输出端与第二放大器的输入端连接;第二放大器的输出端与第二移相器的输入端连接;第二移相器的输出端与混频器的射频端连接;混频器的中频端与低通滤波器的输入端连接;低通滤波器的输出端与基带放大器的输入端连接;基带放大器的输出端与FFT测试仪连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京无线电计量测试研究所,未经北京无线电计量测试研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201711393166.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种集成光波导三维电场传感器
- 下一篇:一种直线中间检测方法