[发明专利]一种薄膜扭矩传感器芯片及制造方法在审

专利信息
申请号: 201711398317.5 申请日: 2017-12-22
公开(公告)号: CN107894295A 公开(公告)日: 2018-04-10
发明(设计)人: 雷卫武 申请(专利权)人: 北京中航兴盛测控技术有限公司
主分类号: G01L3/10 分类号: G01L3/10
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 102101 北京市延庆区*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种薄膜扭矩传感器芯片及制造方法,制造方法包括准备弹性体材料;加工弹性体材料;将弹性体退火处理;研磨抛光;在原子薄膜沉积系统中沉积原子级的过渡层、绝缘层、薄膜电阻层、接触层后光刻形成应变电阻;将光刻好的弹性体材料进行退火处理;切割分离成敏感单元;引出信号线;涂敷保护层,烘干形成薄膜扭矩传感器芯片。由于弹性体材料采用了大面积整块材料加工,生产效率高,产品成本低,一致性好。
搜索关键词: 一种 薄膜 扭矩 传感器 芯片 制造 方法
【主权项】:
一种薄膜扭矩传感器芯片制造方法,其特征在于,包括以下步骤:S1.准备弹性体材料,所述弹性体材料包括但不限于不锈钢、钛合金、非晶合金;S2.采用机械加工的方法或者激光切割的方法,加工出具有定位边(12)的弹性体材料(1),所述弹性体材料(1)的大小是4英寸、6英寸、8英寸、12英寸中的一种;S3.将加工好的所述弹性体材料(1)放入高温退火炉中进行退火处理;S4.利用机械研磨抛光方法,将所述弹性体材料(1)的上表面(11)进行研磨抛光,然后清洗烘干备用;S5.将烘干后的弹性体材料(1)放入具有二个共溅射离子加速器、一个辅助清洗离子加速器的原子薄膜沉积系统的真空腔室中;S6.启动原子薄膜沉积系统,将真空腔室抽真空,启动所述辅助清洗离子加速器对弹性体材料(1)的上表面(11)进行离子束轰击清洗,使所述上表面(11)进一步抛光,去除上表面(11)上的吸附物,使上表面(11)达到原子级清洁度,同时增强上表面(11)表面原子能量;S7.启动二个共溅射离子加速器,在所述弹性体材料(1)的上表面(11)上依次共溅射沉积原子级的过渡层(13)、绝缘层(14)、薄膜电阻层(15)、接触层(16);S8.将沉积好过渡层(13)、绝缘层(14)、薄膜电阻层(15)、接触层(16)的所述弹性体材料(1)进行光刻,形成位于中部位置的薄膜电阻(15‑1)和位于两端的二个接触层焊盘(16‑1);S9.将光刻好的弹性体材料(1)放入高温炉中,进行退火处理;S10.将退火处理好的弹性体材料(1)切割分离成敏感单元(2);S11.在所述敏感单元(2)的二个接触层焊盘(16‑1)上引出信号线;S12.在所述敏感单元(2)的表面涂敷保护层(17),烘干。
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