[发明专利]一种集成电路用单晶硅片边缘倒角方法有效

专利信息
申请号: 201711399312.4 申请日: 2017-12-22
公开(公告)号: CN108177044B 公开(公告)日: 2020-09-18
发明(设计)人: 周静;张俊宝;陈猛 申请(专利权)人: 重庆超硅半导体有限公司
主分类号: B24B9/06 分类号: B24B9/06;B24B1/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 400714 重庆市北碚区*** 国省代码: 重庆;50
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摘要: 发明技术提供一种集成电路用单晶硅片的边缘倒角方法,采用两步法对集成电路用硅片进行边缘倒角,分别为倒角粗磨和倒角精磨。倒角砂轮沟槽的特征在于沟槽底部为一段圆弧,侧边为抛物线。底部圆弧与侧边抛物线相交,底部圆弧在交点处的切线和抛物线在交点处的切线重合。砂轮磨粒的材质为金刚石,配合砂轮转速、硅片转速、磨削液流量,达到无缺陷倒角的效果,有效地控制了硅片倒角时边缘出现的点状、带状、短线、崩边、毛刺、形状不良等缺陷问题,延长倒角砂轮的使用寿命,提高了硅片的加工成品率。
搜索关键词: 一种 集成电路 单晶硅 边缘 倒角 方法
【主权项】:
1.一种集成电路用单晶硅片的边缘倒角技术,采用两步法对集成电路用硅片进行边缘倒角,分别为倒角粗磨和倒角精磨;倒角砂轮沟槽的特征在于沟槽底部为一段圆弧,侧边为抛物线;底部圆弧与侧边抛物线相交,形成两个交点,交点A和交点B;底部圆弧在交点处的切线和抛物线在交点处的切线重合,即沟槽侧边的抛物线段与圆弧段的连接处曲线的斜率相等,并通过交点A或交点B;砂轮磨粒的材质为金刚石,配合砂轮转速、硅片转速、磨削液流量,达到无缺陷倒角的效果。
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