[发明专利]一种基于分段多项式拟合的基线校正方法在审

专利信息
申请号: 201711407564.7 申请日: 2017-12-22
公开(公告)号: CN108287137A 公开(公告)日: 2018-07-17
发明(设计)人: 夏果;张继尧;史书明;陈迪虎;裘桢炜;洪津 申请(专利权)人: 必欧瀚生物技术(合肥)有限公司
主分类号: G01N21/27 分类号: G01N21/27
代理公司: 合肥天明专利事务所(普通合伙) 34115 代理人: 赵瑜;金凯
地址: 230088 安徽省合肥市高新区*** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 发明涉及光谱测量分析技术领域,具体涉及一种基于分段多项式拟合的基线校正方法。包括以下步骤:使用光电传感器接受光谱数据,将采集点从0开始进行编号处理,然后对光谱数据进行降噪处理和分段处理,对于无峰区域采用多项式拟合得到基线,对于有峰区域进行多步优化处理得到基线,最后对分段基线进行拼接,将基线从输入光谱中减去,完成基线校正。本发明具有误差小,不需要额外的试剂和设备,能够对多种特殊峰型进行处理,适用性强。
搜索关键词: 基线 基线校正 分段多项式拟合 光谱数据 峰区域 多项式拟合 光电传感器 分段处理 光谱测量 降噪处理 输入光谱 优化处理 采集点 减去 峰型 拼接 分段 分析
【主权项】:
1.一种基于分段多项式拟合的基线校正方法,其特征在于,包括以下步骤:使用光电传感器接受光谱数据,将采集点从0开始进行编号处理,然后对光谱数据进行降噪处理和分段处理,对于无峰区域采用多项式拟合得到基线,对于有峰区域进行多步优化处理得到基线,最后对分段基线进行拼接,将基线从输入光谱中减去,完成基线校正。
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