[发明专利]样点布设的方法、装置、电子设备和存储介质有效

专利信息
申请号: 201711407612.2 申请日: 2017-12-22
公开(公告)号: CN108287940B 公开(公告)日: 2020-02-18
发明(设计)人: 高秉博;李晓岚;潘瑜春;郜允兵;董士伟;周艳兵;李淑华;郝星耀 申请(专利权)人: 北京农业信息技术研究中心
主分类号: G06F30/18 分类号: G06F30/18
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王莹;李相雨
地址: 100097 北京市海淀区*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明实施例提供一种样点布设的方法、装置、电子设备和存储介质。所述方法包括获取监测区域的所有候选点,并确定每个候选点的属性以及每个属性的分层;根据属性的分层,将每一候选点映射至预先构建的拉丁超立方体的单元,在立方体的单个维度上,每一单元对应一个属性的一个分层,并将映射成功的单元记为非空单元;针对拉丁超立方体的主维度上的每一单元的第一单元组,计算第一单元组中每一非空单元的影响度;在第一单元组中影响度最小的非空单元所映射的候选点中选择样点。所述方法对每一属性的每一分层均布设了样点,且只选取代表性强的样点进行布设,使得布设的样点既全面又符合实际情况,从而提高监测的可靠性。
搜索关键词: 布设 方法 装置 电子设备 存储 介质
【主权项】:
1.一种样点布设的方法,其特征在于,所述方法包括:获取监测区域的所有候选点,并确定每个候选点的属性以及每个属性的分层;根据所述属性的分层,将每一候选点映射至预先构建的拉丁超立方体的单元,在立方体的单个维度上,每一单元对应一个属性的一个分层,并将映射成功的单元记为非空单元;针对所述拉丁超立方体的主维度上的每一单元的第一单元组,计算第一单元组中每一非空单元的影响度,所述影响度是非空单元在每一维度对应的非空单元个数,所述主维度是拉丁超立方体的属性的分层的个数最多的属性对应的维度,所述第一单元组包括主维度上的一个单元以及与该单元属于同一层的单元;在所述第一单元组中影响度最小的非空单元所映射的候选点中选择样点。
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