[发明专利]用于太赫兹光束或毫米波的分析与调节系统以及太赫兹光束或毫米波的分析与调节方法在审
| 申请号： | 201711408881.0 | 申请日： | 2017-12-22 |
| 公开（公告）号： | CN109959446A | 公开（公告）日： | 2019-07-02 |
| 发明（设计）人： | 鲁远甫;焦国华;佘荣斌;董玉明;刘文权;吕建成;章逸舟;罗阿郁 | 申请（专利权）人： | 深圳先进技术研究院 |
| 主分类号： | G01J1/00 | 分类号： | G01J1/00;G01J1/08;G01J1/04 |
| 代理公司： | 北京市诚辉律师事务所 11430 | 代理人： | 范盈 |
| 地址： | 518055 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 用于太赫兹光束或毫米波的分析与调节系统以及太赫兹光束或毫米波的分析与调节方法，本发明提供了用于太赫兹光束的分析与调节系统与方法，还提供了用于毫米波光束的分析与调节系统与方法，其不需要采用面阵探测器，在探测的同时实现了光路辅助调节，降低了系统的复杂程度，具有诸多有益效果。 | ||
| 搜索关键词： | 毫米波 调节系统 分析 面阵探测器 辅助调节 光路 探测 | ||
【主权项】：
1.一种用于太赫兹光束的分析与调节系统，主要包括：光源(1)、反射镜(2)、透镜(3)、单点光斑探测器(4)以及刀片(6)；其中，所述光源(1)用于产生太赫兹波段光束；所述透镜(3)的两侧分别设置所述反射镜(2)与所述单点光斑探测器(4)，透镜(3)的光轴与反射镜(2)以及单点光斑探测器(4)共轴；所述刀片(6)设置在所述反射镜(2)与所述透镜(3)之间，所述刀片(6)的平面方向与所述透镜(2)的光轴相互垂直，并可沿平行于所述光轴的X轴方向、垂直于所述X轴方向的Y轴方向以及与所述X轴与Y轴所在平面垂直的Z轴方向进行三维移动。
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