[发明专利]一种大视野快速检测系统的校正方法

摘要

本发明公开了一种大视野快速检测系统的校正方法，属于影像测量技术领域，包括建立大视野快速检测系统，利用微米级阵列圆的玻璃板做校正片，获取校正板的阵列圆的圆心的像素坐标值，采用逼近函数计算出校正片阵列圆的圆心的世界坐标系的测量值，对所有阵列圆心的偏差和求导，使阵列圆的圆心的世界坐标系的测量值与实际值的误差值逼近需要的精度，解决了大视野快速检测系统中图像的幅面校正的技术问题；本发明可通过一次校正，把整个系统单项硬件的误差及其组合过程中的误差一次性校正完毕，避免了多次校正的繁琐，且校正精度可根据实际需要通过调整校正算法的阶数逼近；本发明可保存校正系数，只要系统成像组件电荷耦合设备与镜头相对不发生变化，则无需再次校正。

主权项

一种大视野快速检测系统的校正方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤1：建立大视野快速检测系统，所述大视野快速检测系统包括用于产品成像的相机(1)、远心镜头(2)、校正片(3)、治具平台模组(4)、支架(6)、用于增加光强度的平行背光源(5)和用于与上位机通信的图像处理模块；步骤2：将相机(1)、远心镜头(2)、校正片(3)、治具平台模组(4)和平行背光源(5)从上至下依次安装在支架(6)上；所述校正片(3)为微米级阵列圆的玻璃板；步骤3：图像处理模块连接上位机；步骤4：大视野快速检测系统获取校正片(3)的一幅图片，并将该图片传送给上位机；步骤5：上位机进行校正的步骤如下：步骤A：上位机对采集的校正片(3)的图片进行处理，以校正片(3)上的阵列圆作为处理对象，获取图片中校正片(3)的阵列圆的圆心的图像坐标值(u_i,v_j)，设定(x_i,y_j)为校正片(3)阵列圆的圆心的世界坐标系的测量值，f(x_i,y_j)为逼近函数，设定(x_真i,y_真j)为校正片(3)阵列圆的圆心的世界坐标系的实际值，上位机根据以下公式对所有阵列圆心的偏差和求导，使误差值逼近需要的精度，从而计算出(x_i,y_j)：其中为需求的精度，i和j分别为阵列圆的行编号和列编号；步骤B：上位机根据以下公式计算出二项多阶系数A：其中n和m均为阶数，其取值均为整数，n大于等于1且小于等于5，m小于等于n；步骤:6：上位机判断是否是第一次校正：是，则执行步骤7；否，则执行步骤8；步骤7：:采用逼近函数f(x_i,y_j)的1阶函数，即n＝1，并根据步骤5的方法进行校正计算，得出校正结果，即计算出二项多阶系数A，执行步骤9；步骤8：增加逼近函数f(x_i,y_j)的阶数，即增大n的取值，并根据步骤5的方法进行校正计算，得出校正结果，即计算出二项多阶系数A，执行步骤9；步骤9：对校正结果进行判断：满足小于需求的精度的要求，执行步骤10；不足小于需求的精度的要求，执行步骤6；步骤10：上位机根据校正片(3)的位置坐标校正大视野快速检测系统的图像：首先正大视野快速检测系统采集一幅图像，上位机对采集的图像进行处理，然后设定采集到的图像上的任意一个点的坐标为(a_i，b_j)，上位机根据一下公式计算出该点的测量坐标(q_i，p_j)：其中i和j分别为阵列圆的行编号和列编号；步骤11：上位机根据步骤4到步骤10的方法，生成校正文档，并存储校正文档。