[发明专利]一种轴叉轴部直径检测工具有效

专利信息
申请号: 201711417343.8 申请日: 2017-12-25
公开(公告)号: CN108036692B 公开(公告)日: 2023-10-24
发明(设计)人: 周军勇;汤明;姚黎明;李德进;方黎明;李海燕 申请(专利权)人: 浙江德福精密驱动制造有限公司
主分类号: G01B5/08 分类号: G01B5/08;G01B5/00
代理公司: 杭州华鼎知识产权代理事务所(普通合伙) 33217 代理人: 武洪雨
地址: 314200 浙江省嘉兴市平湖市*** 国省代码: 浙江;33
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供的一种轴叉轴部直径检测工具,旨在解决现有技术中轴叉测量时测量不方便的技术问题。本发明提供的一种轴叉轴部直径检测工具,在底座上设置有立柱,在立柱上设置有第一支架,在第一支架上设置有第一定位柱、第一测量块和第一百分表,在立柱上还设置有第二支架,在第二支架上设置有第二定位柱、第二测量块和第二百分表,第一百分表测量第一测量块的位移量,第二百分表测量第二测量块的位移量,在实际测量时仅需要使轴段与第一测量块、第二测量块接触即可方便地检测轴段的直径是否符合要求,大大提高了轴叉的测量效率,降低了测量人员的劳动强度。
搜索关键词: 一种 轴叉轴部 直径 检测工具
【主权项】:
1.一种轴叉轴部直径检测工具,包括底座(1),其特征在于:在所述底座(1)上设置有立柱(2),在所述立柱(2)上套设有第一支架(3)和第二支架(4),所述第一支架(3)上设置有将第一支架(3)锁紧在所述立柱(2)上的第一锁紧螺钉,所述第二支架(4)上设置有将第二支架(4)锁紧在立柱(2)上的第二锁紧螺钉,在所述第一支架(3)上固定有第一定位柱(5),在所述第一支架(3)上还设置有第一测量块(6),所述第一测量块(6)通过至少两片第一弹片(7)固定在所述第一支架(3)上,在所述第一支架(3)上还设置有检测所述第一测量块(6)位移量的第一百分表(8),所述第二支架(4)上固定有第二定位柱(9),在所述第二支架(4)上还设置有第二测量块(10),所述第二测量块(10)通过至少两片第二弹片(11)固定在所述第二支架(4)上,在所述第二支架(4)上还设置有检测所述第二测量块(10)位移量的第二百分表(12),所述第一百分表(8)、第二百分表(12)分别位于所述立柱(2)的两侧。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于浙江德福精密驱动制造有限公司,未经浙江德福精密驱动制造有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201711417343.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top