[发明专利]一种介质阻挡放电中表面电荷动态分布测量系统及方法在审

专利信息
申请号: 201711421600.5 申请日: 2017-12-25
公开(公告)号: CN107991544A 公开(公告)日: 2018-05-04
发明(设计)人: 孟永鹏;马鑫哲;杜燕;杨鑫;吴锴;成永红 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G01R29/24 分类号: G01R29/24;H05H1/24
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司61200 代理人: 王艾华
地址: 710049 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种介质阻挡放电中表面电荷动态分布测量系统及方法。该系统包括平板电极结构放电单元、He‑Ne激光源、光束放大器、光阑、1/8波片、偏振分束器、凸透镜、小孔、高速摄像机。所述平板电极结构放电单元包括BSO测量单元、高压电极、绝缘支架和地电极。所述BSO测量单元包括BSO晶体、BK7玻璃和ITO透明电极。BSO晶体胶合在BK7玻璃上,BK7玻璃的另一面镀有ITO透明电极。所述光阑、偏振分束器、1/8波片被固定在同一光学导轨上。本发明基于Pockels效应,通过记录携带电场信息的反射光光强,得到介质表面电荷动态分布。本发明测量灵敏度和分辨率高、对阻挡材料的透光性能没有要求,有助于从表面电荷动态分布角度,对介质阻挡放电进行深入的机理性研究。
搜索关键词: 一种 介质 阻挡 放电 表面 电荷 动态 分布 测量 系统 方法
【主权项】:
一种介质阻挡放电中表面电荷动态分布测量系统,其特征在于,该测量系统包括平板电极结构放电单元、He‑Ne激光源、光束放大器、光阑、1/8波片、偏振分束器、凸透镜、小孔、高速摄像机,He‑Ne激光源之后器件的排放顺序依次为光束放大器、光阑、偏振分束器、1/8波片、平板电极结构放电单元,凸透镜的中心、小孔和高速摄像机镜头的中心在一条水平线上,该水平线与光学导轨垂直,且凸透镜正对偏振分束器,所述平板电极结构放电单元包括BSO测量单元、高压电极、尼龙支架、绝缘支架和地电极,绝缘支架和地电极胶合在一起,并对BSO测量单元进行固定,高压电极由尼龙支架固定,所述光阑、偏振分束器、1/8波片被固定在同一光学导轨上,凸透镜之后依次是小孔和高速摄像机。
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