[发明专利]一种基于FPGA的端塞缺陷检测装置及检测方法在审

专利信息
申请号: 201711425115.5 申请日: 2017-12-25
公开(公告)号: CN107966454A 公开(公告)日: 2018-04-27
发明(设计)人: 周强;王伟刚 申请(专利权)人: 陕西科技大学
主分类号: G01N21/95 分类号: G01N21/95
代理公司: 西安通大专利代理有限责任公司61200 代理人: 徐文权
地址: 710021 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种基于FPGA的端塞缺陷检测装置,所述装置包括图像采集模块、信号转接模块、FPGA主控模块、上位机。其中图像采集模块用于采集端塞的侧表面图像和上表面图像数据,并以信号转接板作为传输转换中介,将LVDS类型图像数据转换成TTL类型数据传输给FPGA主控系统;FPGA主控模块主要用于对端塞图像数据进行处理,检测出端塞缺陷,并将结果发送至上位机进行显示;本发明将机器视觉和基于FPGA的图像处理技术应用于端塞表面缺陷检测,有效的保证了端塞检测的实时性和精准度。
搜索关键词: 一种 基于 fpga 缺陷 检测 装置 方法
【主权项】:
一种基于FPGA的端塞缺陷检测装置,其特征在于,包括旋转检测台、图像采集模块、上位机(13)和包含图像处理模块的FPGA主控制模块(12);所述FPGA主控制模块分别与图像采集模块和上位机(13)相交互;所述图像采集模块包括用于采集端塞孔洞图像的面阵相机和用于采集端塞侧面图像的线阵相机;面阵相机位于旋转检测台的正上方,线阵相机位于旋转检测台的侧上方;所述FPGA主控制模块用于将采集的图形输送至图像处理模块,并将图像处理模块检测的缺陷传送至上位机(13);所述图像处理模块用于检测图像中的缺陷,包括图形预处理单元、特征提取单元和分类单元;所述图形预处理单元用于对图像采集模块采集的图像进行降噪和背景补偿;所述特征提取单元用于对滤波和背景补偿后的图像进行缺陷特征提取;所述分类单元用于对提取的缺陷特征进行识别和分类。
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