[发明专利]一种纳米尺度光场矢量偏振分布检测系统和方法有效
| 申请号： | 201711425253.3 | 申请日： | 2017-12-25 |
| 公开（公告）号： | CN108458788B | 公开（公告）日： | 2019-09-20 |
| 发明（设计）人： | 孙琳;白本锋;张小萌;王佳 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01J4/00 | 分类号： | G01J4/00 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 王莹;吴欢燕 |
| 地址： | 100084 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种纳米尺度光场矢量偏振分布检测系统和方法，所述系统包括：照明模块，用于向等离激元等样品发射不同偏振态的入射光，所述入射光激发等离激元等样品生成纳米尺度光场；扫描近场光学显微镜装置，所述扫描近场光学显微镜装置用于对所述纳米尺度光场进行近场逐点扫描，将纳米尺度光场的近场斯托克斯参数转换为远场斯托克斯参数；偏振调制模块，用于对所述远场斯托克斯参数进行偏振调制，得到偏振调制信号；偏振检测及解调模块，用于解调所述偏振调制信号，输出所述偏振调制信号的偶数阶倍频解调信号；通过所述偶数阶倍频信号和所述系统参数得到所述远场斯托克斯参数，基于所述远场斯托克斯参数还原出近场斯托克斯参数。 | ||
| 搜索关键词： | 纳米尺度 光场 远场 偏振调制信号 近场 扫描近场光学显微镜 等离激元 检测系统 偏振分布 矢量 偶数阶 入射光 偏振调制模块 倍频信号 参数转换 解调模块 解调信号 偏振调制 偏振检测 系统参数 照明模块 逐点扫描 偏振态 倍频 解调 还原 发射 输出 激发 | ||
【主权项】：
1.一种纳米尺度光场矢量偏振分布检测系统，其特征在于，包括：照明模块，用于向等离激元样品发射不同偏振态的入射光，所述入射光激发等离激元样品生成纳米尺度光场；扫描近场光学显微镜装置，所述扫描近场光学显微镜装置用于对所述纳米尺度光场进行近场逐点扫描，将纳米尺度光场的近场斯托克斯参数转换为远场斯托克斯参数；偏振调制模块，用于对所述远场斯托克斯参数进行偏振调制，得到偏振调制信号；偏振检测及解调模块，用于解调所述偏振调制信号，输出所述偏振调制信号的偶数阶倍频解调信号；基于偶数阶倍频解调方法获取所述偶数阶倍频解调信号的系统参数，通过所述偶数阶倍频信号和所述系统参数得到所述远场斯托克斯参数，基于所述远场斯托克斯参数还原出近场斯托克斯参数。
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