[发明专利]一种X射线空气衰减系数检测方法

摘要

本发明实施例涉及一种X射线空气衰减系数检测方法，检测方法包括：A、调节X光机、真空管和电离室的位置；B、开启X光机，测得第一电离电流I1；C、测量并记录真空管内的温度值T1和气压值P1；D、通过真空泵对真空管进行抽真空作业；E、在真空管被抽真空的状态下，测得第二电离电流I2；F、测量并记录抽真空后的真空管的温度值T2和气压值P2；G、根据温度值T1、气压值P1、温度值T2和气压值P2，得到抽真空前后的真空管内的空气质量厚度的改变量Δdm；H、根据第一电离电流I1、第二电离电流I2和空气质量厚度的改变量Δdm，计算得到X射线空气衰减系数μm。本发明，采用抽真空法测量X射线空气衰减系数，操作简单，实验数据精准可靠。

主权项

1.一种X射线空气衰减系数检测方法，其特征在于，所述检测方法包括：步骤A、调节X光机、真空管和电离室的位置，使所述X光机的X射线出射口的中心和所述电离室的X射线入射口的中心均处于所述真空管的中心轴线上；步骤B、开启所述X光机，发射X射线，所述X射线穿射所述真空管，并由所述真空管射出后，被所述电离室吸收，测得第一电离电流I1；步骤C、测量并记录所述真空管内的温度值T1和气压值P1；步骤D、通过真空泵对所述真空管进行抽真空作业；步骤E、在所述真空管被抽真空的状态下，所述X射线穿射所述真空管，并由所述真空管射出后，被所述电离室吸收，测得第二电离电流I2；步骤F、测量并记录抽真空后的所述真空管的温度值T2和气压值P2；步骤G、根据所述温度值T1、气压值P1和所述温度值T2和气压值P2，得到抽真空前后的所述真空管内的空气质量厚度的改变量Δdm；所述空气质量厚度的改变量Δdm的计算公式为：式中，L：所述真空管的长度；ρs：在温度值为293.15K、气压值为101.325kPa下的空气密度；步骤H、根据步骤B测得的所述第一电离电流I1、步骤E测得的所述第二电离电流I2和步骤G中计算出的所述空气质量厚度的改变量Δdm，计算得到X射线空气衰减系数μm；所述X射线空气衰减系数μm的计算公式为：