[发明专利]闪烁体的余辉测试装置在审
| 申请号： | 201711428826.8 | 申请日： | 2017-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN107861146A | 公开（公告）日： | 2018-03-30 |
| 发明（设计）人： | 张清军;张文剑;邹湘;孙立风;张战强 | 申请（专利权）人： | 同方威视技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01T7/00 | 分类号： | G01T7/00;G01N23/04 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 | 代理人： | 艾春慧 |
| 地址： | 100084 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种闪烁体的余辉测试装置。余辉测试装置包括射线发生器、转动体和余辉探测器，转动体用于设置于射线发生器和待测闪烁体之间且设置有用于使射线穿过的出射孔，转动体相对于射线发生器匀速转动以实现对待测闪烁体进行射线照射的通断控制，余辉探测器用于接收待测闪烁体的余辉。本发明的余辉测试装置通过控制转动体匀速转动以实现对待测闪烁体接收射线的通断控制，从而增加测试的稳定性。而且转动体匀速转动可使射线发生器发出的射线间隔穿过出射孔以间隔照射闪烁体，从而便于对闪烁体的余辉进行多次测试，提高余辉测试的准确性。 | ||
| 搜索关键词： | 闪烁 余辉 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种闪烁体的余辉测试装置，其特征在于，包括射线发生器(1)、转动体(2)和余辉探测器，所述转动体(2)用于设置于所述射线发生器(1)和待测闪烁体(A)之间且设置有用于使射线穿过的出射孔，所述转动体(2)相对于所述射线发生器(1)匀速转动以实现对所述待测闪烁体(2)进行射线照射的通断控制，所述余辉探测器用于接收所述待测闪烁体的余辉。
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