[发明专利]一种晶圆和成品测试通用承载板在审
| 申请号： | 201711430578.0 | 申请日： | 2017-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN108107349A | 公开（公告）日： | 2018-06-01 |
| 发明（设计）人： | 顾良波;刘远华;顾春华;罗斌;王华 | 申请（专利权）人： | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海申汇专利代理有限公司 31001 | 代理人： | 吴宝根;徐颖 |
| 地址： | 201203 上海市浦东新区中国(*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种晶圆和成品测试通用承载板，一个下大上小的塔式两层绝缘支架，绝缘支架底层与DIB正面固定，远离DIB的绝缘支架顶层植测试探针，每根测试探针的针尾通过绝缘支架边架上的暗槽，用导线连接至DIB上的对应过孔，过孔与DIB上成品插座的测试pin脚一一对应，并且通过跳线帽的方式设计，使DIB上的测试外围电路要么连接成品插座测试pin脚，要么连接与顶层探针对应连通的过孔，进行晶圆测试。用其可跳过现技术中晶圆检测中的PCB设计，修改PCB外围，定型PCB外围，缩短了测试周期。直接用晶圆成品的外围来测试晶圆，既可以用来测试成品也可以用来测试晶圆，节约了测试成本，缩短了调试的周期。 | ||
| 搜索关键词： | 绝缘支架 测试晶圆 测试探针 成品测试 外围 测试 插座 顶层 种晶 测试成本 测试成品 测试周期 导线连接 方式设计 晶圆测试 晶圆成品 晶圆检测 两层绝缘 外围电路 正面固定 通用 承载板 跳线帽 暗槽 边架 探针 跳过 针尾 支架 定型 连通 调试 承载 节约 | ||
【主权项】：
1.一种晶圆和成品测试通用承载板，包括承载板DIB，在DIB上有成品插座及测试外围电路，其特征在于，还包括一个下大上小的塔式两层绝缘支架，绝缘支架底层与DIB正面固定，远离DIB的绝缘支架顶层植测试探针，每根测试探针的针尾通过绝缘支架边架上的暗槽，用导线连接至DIB上的对应过孔，过孔与DIB上成品插座的测试pin脚一一对应，并且通过跳线帽的方式设计，使DIB上的测试外围电路要么连接成品插座测试pin脚，要么连接与顶层探针对应连通的过孔，成品插座用以插入测试成品，顶层探针用以晶圆测试和调试。
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