[发明专利]一种功率半导体器件封装结构及封装方法有效

专利信息
申请号: 201711444169.6 申请日: 2017-12-27
公开(公告)号: CN108231706B 公开(公告)日: 2020-12-29
发明(设计)人: 武伟;韩荣刚;张喆;李现兵;石浩;张朋;唐新灵;王亮;林仲康;田丽纷 申请(专利权)人: 全球能源互联网研究院有限公司
主分类号: H01L23/31 分类号: H01L23/31;H01L23/482;H01L21/56
代理公司: 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 11250 代理人: 李博洋
地址: 102209 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明实施例提供了一种功率半导体器件封装结构及封装方法,该功率半导体器件封装结构包括:至少一个封装子模组,该封装子模组包括:上金属片、定位框架、功率芯片及下金属片,功率芯片设置于下金属片上,上金属片卡合于定位框架中,与定位框架共同设置于功率芯片上,上金属片的尺寸不小于下金属片的尺寸,且上金属片的尺寸与下金属片的尺寸差异小于预设差值,使得上金属片与下金属片面积相当,从而有效地减小了功率半导体器件中芯片的弯曲,避免了芯片因产生裂纹甚至发生脆断而失效,提高了功率半导体器件的可靠性。
搜索关键词: 一种 功率 半导体器件 封装 结构 方法
【主权项】:
1.一种功率半导体器件封装结构,其特征在于,包括:至少一个封装子模组,所述封装子模组包括:上金属片(11)、定位框架(12)、功率芯片(13)及下金属片(14);所述功率芯片(13)设置于所述下金属片(14)上;所述上金属片(11)卡合于所述定位框架(12)中,与所述定位框架(12)共同设置于所述功率芯片(13)上;所述上金属片(11)的尺寸不小于所述下金属片(14)的尺寸,且所述上金属片(11)的尺寸与所述下金属片(14)的尺寸差异小于预设差值。
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