[发明专利]发光源检测系统与方法有效
| 申请号： | 201711444310.2 | 申请日： | 2017-12-27 |
| 公开（公告）号： | CN109975299B | 公开（公告）日： | 2022-03-25 |
| 发明（设计）人： | 李后贤 | 申请（专利权）人： | 群光电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N21/88 | 分类号： | G01N21/88 |
| 代理公司： | 北京国昊天诚知识产权代理有限公司 11315 | 代理人： | 许志勇;王宁 |
| 地址： | 中国台湾新北*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种发光源检测系统，包括图像获取模块、图像处理模块及检测模块。图像获取模块获取检测画面，检测画面包括有多个待测区图像，这些待测区图像分别位于检测画面上多个默认区域。图像处理模块电连接到图像获取模块，图像处理模块接收这些待测区图像并分别处理成具有相同二维数量的多个二维像素，其中各二维像素具有光学信息。检测模块电连接到图像处理模块，检测模块读取各待测区图像的二维像素，且根据检测模型以检测各待测区图像的二维像素的光学信息，并判断各待测区图像为合格图像或失格图像。 | ||
| 搜索关键词： | 光源 检测 系统 方法 | ||
【主权项】：
1.一种发光源检测方法，包括：获取步骤：获取检测画面，所述检测画面包括有多个待测区图像，所述待测区图像分别位于所述检测画面上多个默认区域；图像处理步骤：将所述待测区图像分别处理成具有相同二维数量的多个二维像素，其特征在于，各所述二维像素具有光学信息；以及检测步骤：读取各所述待测区图像的所述二维像素，并根据检测模型以检测各个所述待测区图像的所述二维像素的所述光学信息，并判断各个所述待测区图像为合格图像或失格图像，其中所述检测模型是指依据深度学习算法进行人工智能演算、并获得输出层演算结果的人工智能算法模型，且所述输出层演算结果包括所述合格图像及所述失格图像。
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