[发明专利]一种引线阻抗测量系统有效

专利信息
申请号: 201711445354.7 申请日: 2017-12-27
公开(公告)号: CN108152592B 公开(公告)日: 2020-04-03
发明(设计)人: 张斌;霍俊明;王红弟;冯晨 申请(专利权)人: 北京航天测控技术有限公司
主分类号: G01R27/08 分类号: G01R27/08
代理公司: 北京方安思达知识产权代理有限公司 11472 代理人: 陈琳琳;刘振
地址: 100041 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种引线阻抗测量系统,其包括:信号采集模块、信号处理模块、显示模块和电源模块;其中,信号采集模块、信号处理模块、显示模块和电源模块依次顺序连接,电源模块分别与信号采集模块、信号处理模块和显示模块相连,形成闭合的回路;所述信号采集模块与引线的两端相连,提供内部电源测量和外部电源测量两种测量方式,根据所选择的测量方式输出对应的电压信号;所述信号处理模块接收对应的电压信号,并将其转换成数字信号,通过计算获得不同测量位置的内部引线实际阻抗值或外部引线实际阻抗值。所述显示模块显示上述测量结果;用户根据需要选择合适的引线实际阻抗值;所述电源模块提供内部测量所需要的不同电压,以正常工作。
搜索关键词: 一种 引线 阻抗 测量 系统
【主权项】:
一种引线阻抗测量系统,其特征在于,其包括:信号采集模块、信号处理模块、显示模块和电源模块;其中,信号采集模块、信号处理模块、显示模块和电源模块依次顺序连接,电源模块分别与信号采集模块、信号处理模块和显示模块相连,形成闭合的回路;所述信号采集模块,用于与引线的两端相连,提供内部电源测量和外部电源测量两种测量方式,根据所选择的测量方式输出对应的电压信号,并将其发送至所述信号处理模块;所述信号处理模块,用于接收对应的电压信号,并将其转换成数字信号,根据所选择的测量方式的高电平或低电平,选择对应的计算公式和对应的阻抗基数值,通过计算获得不同测量位置的引线的阻抗值;其中,任一测量位置的引线的阻抗值减去对应的当前测量位置的内部测量的阻抗基数值或外部测量的阻抗基数值,得到对应的当前测量位置的内部引线实际阻抗值或外部引线实际阻抗值;所述显示模块,用于显示不同测量位置的内部引线实际阻抗值或外部引线实际阻抗值;用户根据需要选择合适的引线实际阻抗值;所述电源模块包括:第一电源和第二电源,用于给信号采集模块、信号处理模块、显示模块供电和提供内部测量所需要的不同电压,以正常工作。
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