[发明专利]闪烁晶体单粒子激发时间分辨光谱的测量系统及测量方法有效
申请号: | 201711446276.2 | 申请日: | 2017-12-27 |
公开(公告)号: | CN108051842B | 公开(公告)日: | 2019-06-07 |
发明(设计)人: | 许孟轩;陈亮;欧阳晓平 | 申请(专利权)人: | 西北核技术研究所 |
主分类号: | G01T1/202 | 分类号: | G01T1/202 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 汪海艳 |
地址: | 710024 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明属于辐射探测技术领域,具体涉及一种测量闪烁晶体单粒子激发时间分辨光谱的测量系统以及测量方法。包括暗箱、光谱仪、位于光谱仪进光口端的第一光电倍增管与放射源及位于光谱仪出光口端的第二光电倍增管,光谱仪、第一光电倍增管、放射源及第二光电倍增管均位于暗箱内;还包括位于暗箱外的高压电源、第一前置放大器与恒比定时器、第二前置放大器与恒比定时器、延时器、时幅转换器、多道分析器及计算机;解决了通过加速器获得的时间分辨激发光谱时,其时间分辨率受加速器脉冲宽度限制,且在测试过程中,引起材料闪烁性能的变化导致测试结果不准确的问题。 | ||
搜索关键词: | 闪烁 晶体 粒子 激发 时间 分辨 光谱 测量 系统 测量方法 | ||
【主权项】:
1.一种闪烁晶体单粒子激发时间分辨光谱的测量系统,其特征在于:包括暗箱(4)、光谱仪(5)、位于光谱仪(5)进光口(7)端的第一光电倍增管(1)与放射源(6)及位于光谱仪(5)出光口(9)端的第二光电倍增管(2),所述光谱仪(5)、第一光电倍增管(1)、放射源(6)及第二光电倍增管(2)均位于暗箱(4)内;还包括位于暗箱(4)外的高压电源(3)、第一前置放大器与恒比定时器(10)、第二前置放大器与恒比定时器(15)、延时器(12)、时幅转换器(11)、多道分析器(13)及计算机(14);待测晶体(8)位于光谱仪(5)进光口(7)的几何中心;所述高压电源(3)用于给第一光电倍增管(1)以及第二光电倍增管(2)提供电压;所述放射源(6)用于激发待测晶体(8),待测晶体(8)发出的部分光进入第一光电倍增管(1);部分光通过进光口(7)进入光谱仪(5);所述第一光电倍增管(1)用于检测待测晶体(8)发出的光信号,并在测到待测晶体(8)发出的光信号的时刻输出一个脉冲信号;所述光谱仪(5)用于根据计算机(14)设定的波长将待测晶体(8)发出的光过滤;所述第二光电倍增管(2)用于检测经光谱仪(5)过滤的光信号,并在接收到光谱仪(5)过滤后的光的时刻输出一个脉冲信号;所述第二前置放大器与恒比定时器(15)用于将第二光电倍增管(2)的脉冲信号放大,并在信号幅度达到设定阈值时,输出一路定时信号;所述延时器(12)用于将第二前置放大器与恒比定时器(15)输出的定时信号进行延时,并输入至时幅转换器(11);所述第一前置放大器与恒比定时器(10)用于将第一光电倍增管(1)的脉冲信号放大,并在信号幅度达到设定阈值的时候,输出另一路定时信号;所述时幅转换器(11)用于将两路定时信号的时间差转换为幅度并输出到多道分析器(13);所述计算机(14)用于接收并处理多道分析器(13)的信号。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西北核技术研究所,未经西北核技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201711446276.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。