[发明专利]像素级剪敏液晶标定方法和装置有效
| 申请号： | 201711456584.3 | 申请日： | 2017-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN108225667B | 公开（公告）日： | 2020-06-30 |
| 发明（设计）人： | 由儒全;黄维娜;陶智;由浩亮;李海旺 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01L27/00 | 分类号： | G01L27/00 |
| 代理公司： | 北京汇捷知识产权代理事务所(普通合伙) 11531 | 代理人： | 于鹏 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种像素级剪敏液晶标定方法，包括：制作与待测件的形状和尺寸均相同的标定件，并对标定件的标定平面进行处理操作；通过对标定件进行量级标定操作获取量级标定曲线；根据拍摄获取的多个图片计算出每一个像素点在多个角度的色相Hue值，并针对每一个像素点对色相Hue值‑角度φ进行高斯曲线的拟合运算；将获取的色相Hue值‑角度 |
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| 搜索关键词： | 像素 级剪敏 液晶 标定 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种像素级剪敏液晶标定方法，其特征在于，所述方法包括：制作与待测件的形状和尺寸均相同的标定件，并对所述标定件的标定平面进行处理操作；通过对所述标定件进行量级标定操作获取量级标定曲线；根据拍摄获取的多个图片计算出每一个像素点在多个角度的色相Hue值，并针对所述每一个像素点对所述色相Hue值‑角度φ进行高斯曲线的拟合运算；将获取的所述色相Hue值‑角度![]()
的所述高斯曲线中所述色相Hue值的最大值代入至所述量级标定曲线中，获取的τ值即为所述每一个像素点的剪切应力值；根据获取的所述每一个像素点的所述剪切应力值完成对所述标定件的全平面内所有像素点的标定操作。
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