[发明专利]电路板故障检测方法及设备有效
| 申请号： | 201711457859.5 | 申请日： | 2017-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN108152712B | 公开（公告）日： | 2020-10-02 |
| 发明（设计）人： | 招其良 | 申请（专利权）人： | 广州飒特红外股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京康度知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11705 | 代理人： | 王彬 |
| 地址： | 510730 广东省广州市广*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提供一种电路板故障检测方法，步骤：设置上电时长以及掉电后的检测时长；设置获取红外能量数据的周期数M和/或每个周期获取红外能量数据的次数N；获取测试电路板的每个像素点的M个周期的红外能量数据，每个周期获取N个上电峰值红外能量数据和N个掉电期间红外能量数据，将每个周期内的N个上电峰值红外能量数据和N个掉电期间红外能量数据分别相减，然后将每个周期的N个相减结果累加，再将M个周期的结果累加得到差值红外能量数据；对标准电路板进行相同处理得到差值红外能量数据；以及将测试电路板的每个像素点的差值红外能量数据与标准电路板的每个像素点的差值红外能量数据进行对比，即可找到异常点。 | ||
| 搜索关键词： | 电路板 故障 检测 方法 设备 | ||
【主权项】：
一种电路板故障检测方法，其特征在于，所述方法包括步骤：步骤1：设置上电时长以及掉电后的检测时长，一个上电时长和一个掉电后的检测时长构成一个周期；步骤2：设置获取红外能量数据的周期数M和/或每个周期获取红外能量数据的次数N，其中，N和M都是大于或等于1的整数；步骤3：获取测试电路板的每个像素点的M个周期的红外能量数据，每个周期获取N个上电峰值红外能量数据和N个掉电期间红外能量数据，将每个周期内的N个上电峰值红外能量数据和N个掉电期间红外能量数据分别相减，然后将每个周期的N个相减结果累加，再将M个周期的结果累加得到差值红外能量数据；步骤4：获取标准电路板的每个像素点的M个周期的红外能量数据，每个周期获取N个上电峰值红外能量数据和N个掉电期间红外能量数据，将每个周期内的N个上电峰值红外能量数据和N个掉电期间红外能量数据分别相减，然后将每个周期的N个相减结果累加，再将M个周期的结果累加得到差值红外能量数据；以及步骤5：将测试电路板的每个像素点的差值红外能量数据与标准电路板的每个像素点的差值红外能量数据进行对比，即可找到异常点。
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