[发明专利]检测电路及应用其的存储器有效
| 申请号： | 201711460635.X | 申请日： | 2017-12-28 |
| 公开（公告）号： | CN109979521B | 公开（公告）日： | 2021-03-02 |
| 发明（设计）人： | 不公告发明人 | 申请（专利权）人： | 长鑫存储技术有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/18 | 分类号： | G11C29/18;G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京市铸成律师事务所 11313 | 代理人： | 张臻贤;武晨燕 |
| 地址： | 230000 安徽省合肥市*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明提供一种存储器的检测电路及应用其的存储器，其中的检测电路用于检测存储器的列信号线，列信号线包括第一组列信号线和第二组列信号线，检测电路包括控制单元、第一检测单元和第二检测单元，控制单元连接于第一组列信号线和第二组列信号线的近端，用以为列信号线的近端提供电平信号；第一检测单元连接于第一组列信号线的远端，用于检测第一组列信号线的远端的电平信号与近端的电平信号是否一致；以及第二检测单元连接于第二组列信号线的远端，用于检测第二组列信号线的远端的电平信号与近端的电平信号是否一致。本发明的检测电路可以检测存储器的列信号线是否发生故障，以提高对存储器的测试能力和测试可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 电路 应用 存储器 | ||
【主权项】：
1.一种存储器的检测电路，用于检测所述存储器的列信号线，所述列信号线包括第一组列信号线和第二组列信号线，其特征在于，所述检测电路包括：控制单元，连接于所述第一组列信号线的近端和所述第二组列信号线的近端，用以为所述列信号线的近端提供电平信号；第一检测单元，连接于所述第一组列信号线的远端，用于检测所述第一组列信号线的远端的电平信号与所述第一组列信号线的近端的电平信号是否一致；以及第二检测单元，连接于所述第二组列信号线的远端，用于检测所述第二组列信号线的远端的电平信号与所述第二组列信号线的近端的电平信号是否一致。
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