[发明专利]测试用例覆盖率的度量方法和度量装置有效

专利信息
申请号: 201711463893.3 申请日: 2017-12-28
公开(公告)号: CN109976999B 公开(公告)日: 2022-09-06
发明(设计)人: 李一伟;张强;梁妍;谢鹏 申请(专利权)人: 北京京东尚科信息技术有限公司;北京京东世纪贸易有限公司
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 张一军;杨晓伟
地址: 100195 北京市海淀区杏石口路6*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种测试用例覆盖率的度量方法和度量装置,涉及计算机技术领域。该方法的一具体实施方式包括:根据被测代码的结构关系数据生成测试用例的结构关系数据;通过计算被测代码的结构关系数据与测试用例的结构关系数据的相似度,得到测试用例的覆盖率。该实施方式能够通过将测试用例与被测代码进行结构关系度量来进行测试用例覆盖率的度量,且具体到了方法内部节点之间的关系度量,维度更多、更细,度量结果更准确,对测试用例的改进提供了数据支持。
搜索关键词: 测试 覆盖率 度量 方法 装置
【主权项】:
1.一种测试用例覆盖率的度量方法,其特征在于,包括:根据被测代码的结构关系数据生成测试用例的结构关系数据;通过计算所述被测代码的结构关系数据与所述测试用例的结构关系数据的相似度,得到所述测试用例的覆盖率。
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