[发明专利]一种循环冗余校验方法、设备及存储介质在审

专利信息
申请号: 201711472801.8 申请日: 2017-12-29
公开(公告)号: CN108233944A 公开(公告)日: 2018-06-29
发明(设计)人: 高剑;冯建科;郭士瑞;袁科学;蒋常斌;李杰;阎伟 申请(专利权)人: 北京自动测试技术研究所
主分类号: H03M13/09 分类号: H03M13/09
代理公司: 北京汲智翼成知识产权代理事务所(普通合伙) 11381 代理人: 陈曦;陈丽
地址: 100088 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种循环冗余校验方法、设备及存储介质。其中,该循环冗余校验方法包括如下步骤:将第一校验码CSAi‑1和第二校验码CSBi‑1作为数据序列Pi的初值与数据序列构成输入数据序列;分别进行CRC第一校验模式和CRC第二校验模式的校验,得到第一校验码CSAi和第二校验码CSBi,将第一校验码CSAi与上一个数据序列Pi‑1的第二校验码CSBi‑1连接到一起构成新数据序列;对构成的新数据序列再进行CRC第一校验模式的校验,得出数据序列Pi的校验码;计数器的数值逐一增加,重复上述步骤,直至所有传输的数据序列全部校验完成,得到所有数据序列的校验码。该方法避免了传统CRC32异或运算的信息丢失,在不增加资源消耗的基础上,提高了校验的准确性。
搜索关键词: 校验码 校验 数据序列 循环冗余校验 存储介质 新数据 输入数据序列 计数器 信息丢失 异或运算 资源消耗 传输 重复
【主权项】:
1.一种循环冗余校验方法,其特征在于包括如下步骤:将第一校验码CSAi‑1和第二校验码CSBi‑1作为数据序列Pi的初值与数据序列构成输入数据序列;分别进行CRC第一校验模式和CRC第二校验模式的校验,得到第一校验码CSAi和第二校验码CSBi,其中,i为正整数的计数器,i=1,2,……;CSB0为N位’0’序列,N为第二校验码的二进制位数,CSA0为M位’0’序列,M为第一校验码的二进制位数;将第一校验码CSAi与上一个数据序列Pi‑1的第二校验码CSBi‑1连接到一起构成新数据序列;对构成的新数据序列再进行CRC第一校验模式的校验,得出数据序列Pi的校验码;计数器的数值逐一增加,重复上述步骤,直至所有传输的数据序列全部校验完成,得到所有数据序列的校验码。
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