[发明专利]一种基于分形理论的有机外绝缘表面形貌分析方法及装置

摘要

本发明提供了一种基于分形理论的有机外绝缘表面形貌分析方法及装置，涉及电力系统技术领域。方法包括：获得测量平面内有机外绝缘表面扫描数据，并设置投影平面；根据迭代参数确定分形结构判断立方体；覆盖到投影平面，并确定投影面积是否大于测量平面在投影平面的投影面积；若小于等于，则进行投影平面分割，确定当前迭代参数对应的覆盖立方体数量，并更新迭代参数，并返回更新分形结构判断立方体；若大于，则根据各迭代参数对应的覆盖立方体数量和分形结构判断立方体的边长，确定一线性回归关系，得到斜率的绝对值，确定分形上限尺度；根据该分形上限尺度，确定有机外绝缘表面的分形维度。本发明能够实现对有机外绝缘表面形貌的分形特征的准确分析。

主权项

1.一种有机外绝缘表面形貌分析方法，其特征在于，包括：步骤1、将待分析有机外绝缘表面样品通过原子力显微镜进行扫描测量，获得一测量平面内的有机外绝缘表面扫描数据，并确定进行扫描测量时的分辨率；步骤2、设置一与所述测量平面的尺寸相同的投影平面；步骤3、设置初始迭代参数和初始分形结构判断立方体，或者根据更新后的迭代参数，对分形结构判断立方体进行更新；所述初始分形结构判断立方体的体积为所述分辨率的立方；所述初始分形结构判断立方体能够覆盖在所述投影平面上，其覆盖所述投影平面的面积为所述分辨率的平方；步骤4、通过分形结构判断立方体覆盖到所述投影平面，并确定分形结构判断立方体在所述投影平面的投影面积是否大于所述测量平面在所述投影平面的投影面积；若大于，则执行步骤8；若小于等于，则执行步骤5；步骤5、将所述投影平面根据分形结构判断立方体在所述投影平面的投影面积进行分割，形成各分割平面；所述分割平面的尺寸为分形结构判断立方体在所述投影平面的投影面积；步骤6、在每个分割平面对应的测量平面上确定一子测量平面，确定覆盖所述子测量平面所需的立方体数量；并将各分割平面对应的各子测量平面所需的立方体数量叠加求和，生成当前迭代参数对应的覆盖立方体数量；步骤7、将当前迭代参数加1，以生成更新后的迭代参数；在步骤7之后返回执行步骤3；步骤8、根据各迭代参数对应的覆盖立方体数量和分形结构判断立方体的边长，确定一线性回归关系；步骤9、根据所述线性回归关系的斜率的绝对值，确定有机外绝缘表面的分形上限尺度；步骤10、根据所述有机外绝缘表面的分形上限尺度，确定有机外绝缘表面的分形维度。