[发明专利]光学单元在审
| 申请号： | 201711475935.5 | 申请日： | 2017-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN108332159A | 公开（公告）日： | 2018-07-27 |
| 发明（设计）人： | 中野量;石田哲也 | 申请（专利权）人： | 株式会社小糸制作所 |
| 主分类号： | F21S41/675 | 分类号： | F21S41/675;F21V7/00;F21W107/10;F21W103/00 |
| 代理公司： | 北京龙双利达知识产权代理有限公司 11329 | 代理人： | 王礼华;李飞 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及光学单元。其课题在于，提供检测旋转反射镜的旋转位置的新的构成。光学单元(50)包括:旋转反射镜(24)，构成为使得从光源射出的光反射，通过使得反射的反射光扫描，形成配光图案；作为旋转驱动部的电机(52)，使得旋转反射镜(24)旋转；磁铁(54)，安装在旋转反射镜(24)的所设定的基准处；以及霍尔元件(56)，生成表示磁铁(54)通过所设定位置的时刻的位置检测信号。 | ||
| 搜索关键词： | 旋转反射镜 光学单元 磁铁 位置检测信号 旋转驱动部 霍尔元件 配光图案 旋转位置 反射光 光反射 基准处 射出 反射 光源 电机 扫描 检测 | ||
【主权项】：
1.一种光学单元，其特征在于，包括:旋转反射镜，构成为使得从光源射出的光反射，通过使得反射的反射光扫描，形成配光图案；旋转驱动部，使得上述旋转反射镜旋转；磁铁，安装在上述旋转反射镜的所设定的基准处；以及检测部，生成表示上述磁铁通过所设定位置的时刻的位置检测信号。
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