[发明专利]基于PS小球纳米掩模的聚酰亚胺纳米结构的制备方法在审

专利信息
申请号: 201711478053.4 申请日: 2017-12-29
公开(公告)号: CN108358161A 公开(公告)日: 2018-08-03
发明(设计)人: 何洋;吕湘连;苑伟政;王颖;卢江波;楼之源 申请(专利权)人: 西北工业大学
主分类号: B81C1/00 分类号: B81C1/00
代理公司: 西北工业大学专利中心 61204 代理人: 陈星
地址: 710072 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种基于PS小球纳米掩模的聚酰亚胺纳米结构的制备方法,属于微纳结构制备领域。该方法将PS小球和含硅聚酰亚胺薄膜结合起来,将单层PS小球与聚酰亚胺薄膜复合,通过RIE刻蚀调整PS小球之间的尺寸,再以PS小球为掩膜版,使用四氟化碳气体对含硅的聚酰亚胺进行RIE刻蚀,利用四氟化碳气体对硅的刻蚀速率远远大于对PS胶体球的刻蚀速率,实现聚酰亚胺薄膜纳米结构制备。本发明首次提出了一种基于PS小球为掩模的聚酰亚胺纳米结构全参数可控制备方法,尤其是在聚酰亚胺薄膜的纳米结构全尺寸可控制备,这对基于聚酰亚胺薄膜的柔性微器件加工有重要的指导作用。
搜索关键词: 小球 纳米结构 聚酰亚胺薄膜 聚酰亚胺 刻蚀 制备 掩模 四氟化碳气体 可控制 含硅聚酰亚胺 微纳结构 胶体球 全参数 微器件 掩膜版 单层 薄膜 复合 加工
【主权项】:
1.基于PS小球为掩模的含硅聚酰亚胺纳米结构制备的方法,其特征在于,具体包括如下步骤:步骤一:利用酸碱表面处理法对含硅聚酰亚胺薄膜表面进行改性,提高表面粘接性能;步骤二:制备单层致密PS小球纳米掩膜;步骤三:将单层致密PS小球纳米掩膜复合于含硅聚酰亚胺薄膜之上;步骤四:使用氧气对含硅的聚酰亚胺进行RIE刻蚀,以调节PS纳米掩膜间距及半径;步骤五:聚酰亚胺纳米结构全参数可控制备:包括两个子步骤:子步骤一:使用四氟化碳气体对含硅的聚酰亚胺进行RIE刻蚀;子步骤二:将刻蚀后的含硅聚酰亚胺基底放在四氢呋喃中浸泡,去除含硅聚酰亚胺薄膜表面的PS小球纳米掩膜,得到含硅聚酰亚胺纳米结构。
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