[发明专利]一种插入损耗测试条在审

专利信息
申请号: 201711480880.7 申请日: 2017-12-29
公开(公告)号: CN108254625A 公开(公告)日: 2018-07-06
发明(设计)人: 孙梁;王善进;纪成光;杜红兵;崔哲相;陈正清 申请(专利权)人: 生益电子股份有限公司
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 张春水;唐京桥
地址: 523127 广东省东莞*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明涉及PCB技术领域,公开了一种插入损耗测试条,包括至少一层信号层,每层信号层至少包括两组具有不同预设长度的差分信号线,至少一组所述差分信号线沿其长度方向包括依次相连的若干条信号线段,相邻的两条所述信号线段之间形成有夹角。本发明实施例在测试条上采用非直线布线设计,同时删除了伴随地孔设计,不仅可以规避玻纤效应和周期性负载效应,提高插损测试精准度,降低了高速信号时间偏移的影响,而且可大大节省占用空间,提高板材利用率。
搜索关键词: 测试条 差分信号线 插入损耗 信号线段 信号层 板材利用率 周期性负载 布线设计 高速信号 时间偏移 依次相连 占用空间 非直线 精准度 玻纤 插损 地孔 两组 预设 删除 测试
【主权项】:
1.一种插入损耗测试条,包括至少一层信号层,每层信号层至少包括两组具有不同预设长度的差分信号线,其特征在于,至少一组所述差分信号线沿其长度方向包括依次相连的若干条信号线段,相邻的两条所述信号线段之间形成有夹角。
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