[发明专利]一种基于结构光的投影校正方法及其系统在审

专利信息
申请号: 201711482239.7 申请日: 2017-12-29
公开(公告)号: CN109996048A 公开(公告)日: 2019-07-09
发明(设计)人: 罗坤 申请(专利权)人: 深圳市TCL高新技术开发有限公司
主分类号: H04N9/31 分类号: H04N9/31
代理公司: 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) 44268 代理人: 王永文;刘文求
地址: 518000 广东省深圳市南山区西丽留仙洞中山园路*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供了一种基于结构光的投影校正方法及其系统,通过结构光投影摄像头投射结构光到前方区域,获取所述前方区域内的投影区域和待校正图像区域的像素数据信息;根据所述像素数据信息得到投影区域的位置坐标信息和待校正图像中关键点的坐标信息;根据所述投影区域的位置坐标信息和所述待校正图像的关键点坐标信息,建立所述待校正图像平面与投影区域所在平面之间的对应关系;根据所述对应关系进行待校正图像的透视变换,得到校正后的投影图像。本发明所提供的投影校正方法及其系统提出了一种非接触式的图像校正方案,只需要通过摄像头对校正图像进行拍照就能完成校正,从而能够更加灵活高效的解决图像校正问题。
搜索关键词: 校正图像 投影区域 投影校正 结构光 位置坐标信息 摄像头 前方区域 图像校正 像素数据 坐标信息 关键点 校正 结构光投影 非接触式 所在平面 投影图像 透视变换 投射 拍照 灵活
【主权项】:
1.一种基于结构光的投影校正方法,其特征在于,包括:投影摄像头投射结构光到前方区域,获取前方区域内的投影区域和待校正图像区域的像素数据信息;根据所述像素数据信息得到投影区域的位置坐标信息和待校正图像中关键点的坐标信息;根据所述投影区域的位置坐标信息和所述待校正图像的关键点坐标信息,建立所述待校正图像的像素坐标与投影区域所在平面像素坐标之间的对应关系;根据所述对应关系进行待校正图像的透视变换,得到校正后的投影图像。
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