[发明专利]一种电池测量方法有效
| 申请号： | 201711485185.X | 申请日： | 2017-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN108152752B | 公开（公告）日： | 2020-07-14 |
| 发明（设计）人： | 卜芳;林锦芳;赖彩婷;袁中直;祝媛;刘金成 | 申请（专利权）人： | 惠州亿纬锂能股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/392 | 分类号： | G01R31/392 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 孟金喆 |
| 地址： | 516006 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明提出一种电池测量方法，该电池测量方法包括：对待测量电池进行电化学阻抗全频扫描，获取待测电池的电化学阻抗谱；根据电化学阻抗谱获取高频率区的第一特征阻抗、中频率区的第二特征阻抗和低频率区的第三特征阻抗；在第一特征阻抗位于高频率区的第一阻抗预设范围，第二特征阻抗位于中频率区的第二阻抗预设范围，以及第三特征阻抗位于低频率区的第三阻抗预设范围时，确认待测量电池为合格电池。本发明的技术方案，解决了现有技术中只对单一性能进行筛选，不能将性能不良、存在隐患的电池全面筛选出来的问题，实现了可以全面甄别出性能不良、存在隐患的电池的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 电池 测量方法 | ||
【主权项】：
一种电池测量方法，其特征在于，包括：对待测量电池进行电化学阻抗全频扫描，获取待测电池的电化学阻抗谱；根据所述电化学阻抗谱获取高频率区的第一特征阻抗、中频率区的第二特征阻抗和低频率区的第三特征阻抗；在所述第一特征阻抗位于高频率区的第一阻抗预设范围，第二特征阻抗位于中频率区的第二阻抗预设范围，以及第三特征阻抗位于低频率区的第三阻抗预设范围时，确认所述待测量电池为合格电池。
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