[发明专利]一种相位式激光测距系统及方法有效

专利信息
申请号: 201711492560.3 申请日: 2017-12-30
公开(公告)号: CN108303702B 公开(公告)日: 2020-08-04
发明(设计)人: 李传文;李增强;肖恺 申请(专利权)人: 武汉灵途传感科技有限公司
主分类号: G01S17/08 分类号: G01S17/08;G01S7/48
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 王莹;吴欢燕
地址: 430074 湖北省*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明实施例提供了一种相位式激光测距系统及方法,所述系统包括:激光发射单元、第一透镜及相位测距单元,所述激光发射单元包括激光光源和第二透镜,所述第一透镜的中心和所述第二透镜的中心之间相距预设距离;所述相位测距单元包括多个相位测距子单元,所述多个相位测距子单元阵列布置在所述第一透镜的焦平面上,且每个相位测距子单元的测量范围小于所述系统的相位模糊距离,所述相位测距单元用于根据所述第二激光与所述第一激光的相位差,以及每个相位测距子单元的测量范围,得到所述待测物体与所述激光发射单元之间的距离,激光发射单元只需发射一次激光即可完成测距,且改善甚至消除了相位模糊问题。
搜索关键词: 一种 相位 激光 测距 系统 方法
【主权项】:
1.一种相位式激光测距系统,其特征在于,所述系统包括:激光发射单元、第一透镜及相位测距单元,所述激光发射单元包括激光光源和第二透镜,所述第一透镜的中心和所述第二透镜的中心之间相距预设距离;其中,所述激光发射单元用于向待测物体发射具有预设频率的第一激光;所述第一透镜用于接收所述第一激光经所述待测物体反射或散射后的第二激光,并将所述第二激光会聚至所述相位测距单元上;所述相位测距单元包括多个相位测距子单元,所述多个相位测距子单元阵列布置在所述第一透镜的焦平面上,且每个相位测距子单元的测量范围小于所述系统的相位模糊距离,所述相位测距单元用于根据所述第二激光与所述第一激光的相位差,以及每个相位测距子单元的测量范围,得到所述待测物体与所述激光发射单元之间的距离。
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