[发明专利]一种物体位置检测方法及系统有效

专利信息
申请号: 201711493384.5 申请日: 2017-12-30
公开(公告)号: CN108061543B 公开(公告)日: 2021-07-09
发明(设计)人: 胡淼龙 申请(专利权)人: 浙江维思无线网络技术有限公司
主分类号: G01C15/00 分类号: G01C15/00;G01B11/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 314036 浙江省*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明给出一种物体位置检测方法及系统,所述方法包括:经过第一基准位置对应的第一基准点发射面状激光波束,使所述面状激光波束的不同部分分别对第二基准位置对应的第二基准点和第三基准位置对应的第三基准点同时照射;将经过所述第一基准点照向第二和第三基准点的面状激光波束的波束面作为第一观测基准面,使用第一测量光靶获取待测物体的位置参照点相对于该观测基准面的位置或位移。精度高、可靠性高、成本低且易于布设。
搜索关键词: 一种 物体 位置 检测 方法 系统
【主权项】:
1.一种物体位置检测方法,包括:经过第一基准位置对应的第一基准点发射面状激光波束,使所述面状激光波束的不同部分分别对第二基准位置对应的第二基准点和第三基准位置对应的第三基准点同时照射;将经过所述第一基准点照向第二和第三基准点的面状激光波束的波束面作为第一观测基准面,使用第一测量光靶获取待测物体的位置参照点相对于该观测基准面的位置或位移;其中,所述面状激光波束,是指波束的横截面形状中或波束照射在与波束主传播方向相垂直的平面上所形成的光斑中包含一字形状的激光波束;第二基准点对应第一观测基准面第一基准光靶,该光靶用于获取面状激光波束在第二基准位置处的照射位置,第三基准点对应第一观测基准面第二基准光靶,该光靶用于获取面状激光波束在第三基准位置处的照射位置。
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