[发明专利]稀磁半导体及其制备方法有效
申请号: | 201711493907.6 | 申请日: | 2017-12-31 |
公开(公告)号: | CN108190941B | 公开(公告)日: | 2020-05-12 |
发明(设计)人: | 韩爱文 | 申请(专利权)人: | 乐清海创智能科技有限公司 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 325600 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | 本发明提供了一种稀磁半导体的制备方法,制备方法包括如下步骤:制备复合氧化铟靶材;提供氧化铝基片,并对氧化铝基片进行清洗和抛光,得到第一氧化铝基片;将第一氧化铝基片放入真空室进行预溅射,得到第二氧化铝基片;利用脉冲激光沉积方法,在第二氧化铝基片上沉积氧化铜薄膜,得到第一复合氧化铝基片;利用脉冲激光沉积方法,在第一复合氧化铝基片上沉积氧化亚铜薄膜,得到第二复合氧化铝基片;利用脉冲激光沉积方法,在第二复合氧化铝基片上沉积铁钴钆掺杂的氧化铟薄膜。本发明通过氧化铟薄膜中掺杂铁、钴、钆原子,大幅度提高了稀磁半导体的磁性能,使得复合薄膜能够有效的用于存储器件。 | ||
搜索关键词: | 半导体 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
1.一种稀磁半导体的制备方法,其特征在于:所述制备方法包括如下步骤:制备复合氧化铟靶材,所述复合氧化铟靶材的分子式为(In1‑x‑y‑zFexCoyGdz)2O3,其中,x=0.02‑0.04,y=0.01‑0.02,z=0.01‑0.02;提供氧化铝基片,并对所述氧化铝基片进行清洗和抛光,得到第一氧化铝基片;将所述第一氧化铝基片放入真空室进行预溅射,得到第二氧化铝基片;利用脉冲激光沉积方法,在所述第二氧化铝基片上沉积氧化铜薄膜,得到第一复合氧化铝基片;利用脉冲激光沉积方法,在所述第一复合氧化铝基片上沉积氧化亚铜薄膜,得到第二复合氧化铝基片;利用脉冲激光沉积方法,在所述第二复合氧化铝基片上沉积铁钴钆掺杂的氧化铟薄膜。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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