[发明专利]一种用于退偏器性能检测的方法及装置在审

专利信息
申请号: 201711496575.7 申请日: 2017-12-31
公开(公告)号: CN108225742A 公开(公告)日: 2018-06-29
发明(设计)人: 周建康;靳阳明;黄绪杰;沈为民 申请(专利权)人: 苏州大学
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G01J4/00
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 陶海锋
地址: 215104 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种用于退偏器性能检测的方法及装置。检测装置的结构为:点状光源发出的光经反射准直镜反射,再依次通过起偏器、扩束系统、待检测退偏器、缩束系统、检偏器后,经聚焦镜聚焦,在探测器上记录得到的光信号。扩束系统和缩束系统采用伽利略或开普勒望远结构,包括两块离轴抛物面镜;扩束系统和缩束系统的结构参数相同,使用状态为结构倒置。依据检测信号,采用偏振灵敏度计算方法,得到检测系统的偏振灵敏度,再依据扩束系统和缩束系统的透过率及穆勒矩阵,得到待检测退偏器的偏振灵敏度。本发明提供的退偏器检测装置和方法,满足了大口径退偏器的检测需要,可在宽波段下和高偏振灵敏性检测要求条件下使用。
搜索关键词: 退偏器 扩束系统 缩束系统 偏振灵敏度 检测 检测装置 性能检测 反射 离轴抛物面镜 矩阵 点状光源 检测系统 检测信号 结构参数 要求条件 倒置 大口径 高偏振 检偏器 聚焦镜 宽波段 灵敏性 起偏器 透过率 准直镜 探测器 望远 聚焦 记录
【主权项】:
1.一种用于退偏器性能检测的装置,其特征在于它的结构为:点状光源(1)发出的光经反射准直镜(2)反射,再依次通过起偏器(9)、扩束系统、待检测退偏器(11)、缩束系统、检偏器(10)后,经聚焦镜(7)聚焦,在探测器(8)上记录得到的光信号。
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