[发明专利]钍射气累积测量法中的探测效率确定方法

摘要

本发明涉及环境监测领域放射性气体钍射气（220Rn）浓度的测量，为钍射气累积测量法中的探测效率确定方法，依次通过（1）钍射气子体照射实验和（2）钍射气照射实验得到铝箔包裹后径迹片平均探测效率。本发明实现对累积测量法中钍射气的探测效率确定。

主权项

1.一种钍射气累积测量法中的探测效率确定方法，其特征在于：(1)钍射气子体照射实验：钍射气在进入照射室前已经在衰变室内完全衰变，进入到照射室的主要为212Pb、212Bi及其后衰变子体；这些子体中212Bi衰变时有35.9％的概率发射6.05MeV能量α射线，另有64.1％的概率衰变为212Po，212Po衰变时发射8.78MeV能量α射线；无铝箔径迹片上记录的是6.05MeV和8.78MeV能量α射线，有铝箔径迹片上只记录部分8.78MeV能量α射线；假设无铝箔径迹片上记录的6.05MeV和8.78MeV能量α射线个数分别为N6.05和N8.78，有铝箔径迹片上记录的8.78MeV能量α射线个数为n8.78，铝箔包裹后径迹片探测效率为ε₁；根据以上分析有：N_8.78：N_6.05＝0.64：0.36  (1)根据刻度实验可知：n_8.78/(N_8.78+N_6.05)＝C₀(C₀为实验值)  (2)故可得铝箔包裹后径迹片探测效率为：ε₁＝n_8.78/N_8.78  (3)(2)钍射气照射实验：钍射气衰变时发射6.29MeVα射线变为216Po，216Po衰变时发射6.78MeV能量α射线，212Bi衰变如步骤(1)中所述；由于钍射气半衰期只有55.6s，穿透滤膜进入剂量盒后，快速衰变为216Po，而216Po半衰期只有0.145s，因此无铝箔径迹片上记录的α射线的能量为6.05MeV、6.78MeV或6.29MeV和8.78MeV有铝箔径迹片上只记录部分8.78MeV能量α射线；假设无铝箔径迹片上记录的6.05MeV、6.78MeV或6.29MeV和8.78MeV能量α射线个数分别为N6.05’、N6.78’和N8.78’，有铝箔径迹片上记录的8.78MeV能量α射线个数为n8.78’，铝箔包裹后径迹片探测效率为ε₂；根据以上分析有：N_6.78’：N_8.78’：N_6.05’＝1：0.64：0.36  (4)根据刻度实验可知：n_8.78’/(N_6.78’+N_8.78’+N_6.05’)＝C₁(C₁为实验值)  (5)故可得铝箔包裹后径迹片探测效率为：ε₂＝n_8.78’/N_8.78’  (6)由钍射气照射实验和钍射气子体照射实验得到的铝箔包裹径迹片探测效率应基本一致；由式(3)和式(6)可得到铝箔包裹后径迹片平均探测效率为：ε＝(ε₁+ε₂)/2  (7)钍射气及其子体对径迹片进行照射时，在一定厚度的铝箔下，只有212Po衰变时发射的8.78MeV能量α射线可以穿透；利用这一特性，可通过包裹铝箔的径迹片和不包裹铝箔径迹片对钍射气及其子体的照射实验得到该厚度铝箔下的探测效率。