[发明专利]一种短波红外焦平面自适应非均匀校正算法有效
| 申请号： | 201711497395.0 | 申请日： | 2017-12-31 |
| 公开（公告）号： | CN108225570B | 公开（公告）日： | 2020-01-14 |
| 发明（设计）人： | 周津同 | 申请（专利权）人： | 北京华科德科技有限公司 |
| 主分类号： | G01J5/00 | 分类号： | G01J5/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 102200 北京市昌平区科技园区超*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种短波红外焦平面自适应非均匀校正算法，所述短波红外焦平面自适应非均匀校正算法使用logistics函数结合短波红外焦平面非均匀性模型对焦平面的非均匀性进行回归估计求出非均匀性校正系数，达到校正的目的。 | ||
| 搜索关键词： | 红外焦平面 短波 校正算法 非均匀 自适应 非均匀性 非均匀性校正 平面的 对焦 校正 回归 | ||
【主权项】：
1.一种短波红外焦平面自适应非均匀校正算法，其特征在于，包括以下步骤：/n①对线性模型进行两个前提假设；/n②忽略探测单元在辐射范围较小和去除饱和时存在误差情况下，近似地认为焦平面响应是线性的,在均匀的辐射度条件下，焦平面的非均匀性线性模型用下式来表示：/nY
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