[实用新型]一种MEMS传感器子卡测试系统有效
| 申请号： | 201720010673.4 | 申请日： | 2017-01-05 |
| 公开（公告）号： | CN206362361U | 公开（公告）日： | 2017-07-28 |
| 发明（设计）人： | 程匹克;王鹏 | 申请（专利权）人： | 合肥宝龙达信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G01C25/00 | 分类号： | G01C25/00 |
| 代理公司： | 合肥市长远专利代理事务所(普通合伙)34119 | 代理人： | 刘勇,金宇平 |
| 地址： | 230000 安徽省合*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种MEMS传感器子卡测试系统，该系统包括MCU模块、输出模块；MCU模块与输出模块连接；MCU模块，包括MCU控制模块、GPIO、I2C接口、SPI接口，MCU控制模块与GPIO连接，MCU控制模块与I2C接口、SPI接口连接。本实用新型提出的一种MEMS传感器子卡测试系统，采用MCU和LCD组成测试系统，对MEMS传感器子卡进行测试，在MEMS传感器子卡与MCU模块接通电源后，能快速地对MEMS传感器子卡进行测试，并对测试结果进行显示。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 mems 传感器 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种MEMS传感器子卡测试系统，其特征在于，包括：MCU模块、输出模块；MCU模块与输出模块连接；MCU模块，包括MCU控制模块、GPIO、I2C接口、SPI接口，MCU控制模块与GPIO连接，MCU控制模块与I2C接口、SPI接口连接。
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