[实用新型]一种半导体分立器件可调节测试夹具有效
| 申请号： | 201720039942.X | 申请日： | 2017-01-13 |
| 公开（公告）号： | CN206440798U | 公开（公告）日： | 2017-08-25 |
| 发明（设计）人： | 牛喜平;倪炜江;张敬伟;李明山;徐妙玲 | 申请（专利权）人： | 北京世纪金光半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R1/04 |
| 代理公司： | 北京中创阳光知识产权代理有限责任公司11003 | 代理人： | 尹振启,张希宇 |
| 地址： | 100176 北京市大*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型公开了一种半导体分立器件可调节测试夹具，该夹具包括与半导体分立器件的管脚相适配的三个测试头，其中，第一测试头、第二测试头和第三测试头依次排布，第二测试头与夹具安装基础相固定，第一测试头和/或第三测试头是活动的，第一测试头和第二测试头之间安装有将二者连接的弹簧，第二测试头和第三测试头之间安装有将二者连接的弹簧；配备一个施力装置，施力装置作用在第一测试头和/或第三测试头上，由施力装置驱动第一测试头和/或第三测试头向第二测试头移动。对应不同间距管脚的产品，通过调节测试夹具中测试头之间的距离以达到与产品配套的测试夹具，从而对应不同封装形式的产品无需更换夹具并可以方便快捷的测试。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 半导体 分立 器件 调节 测试 夹具 | ||
【主权项】：
一种半导体分立器件可调节测试夹具，其特征在于，该夹具包括：与半导体分立器件的管脚相适配的三个测试头，其中，第一测试头、第二测试头和第三测试头依次排布，所述第二测试头与夹具安装基础相固定，所述第一测试头和/或所述第三测试头是活动的，第一测试头和第二测试头之间安装有将二者连接的弹簧，第二测试头和第三测试头之间安装有将二者连接的弹簧；配备一个施力装置，所述施力装置作用在第一测试头和/或第三测试头上，由施力装置驱动第一测试头和/或第三测试头向第二测试头移动，移动后与半导体分立器件的管脚位置相对应。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京世纪金光半导体有限公司，未经北京世纪金光半导体有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201720039942.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种漏电起痕试验仪
- 下一篇：一种SIM卡卡槽检测装置
