[实用新型]过零检测装置及同步开关有效
| 申请号： | 201720047057.6 | 申请日： | 2017-01-16 |
| 公开（公告）号： | CN206627562U | 公开（公告）日： | 2017-11-10 |
| 发明（设计）人： | 郭桥石 | 申请（专利权）人： | 广州市金矢电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R19/175 | 分类号： | G01R19/175;H03K17/615;H03K17/79 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 511447 广东*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型过零检测装置及同步开关属于电学领域,特别是一种适合应用于接触器、继电器、及其它机械开关中作为过零检测的过零检测装置，及一种无需电流传感器的同步开关；包括一半导体开关、第一限流元件、第一光电耦合器、一整流器件、一电容，半导体开关的控制端通过第一限流元件与所需检测的信号源连接，工作电源通过整流器件为电容充电，电容通过第一光电耦合器的控制端、半导体开关形成放电回路，第一光电耦合器输出检测信号，本实用新型具有电路简单、检测精度高、性价比高的优点。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 装置 同步 开关 | ||
【主权项】：
一种过零检测装置，其特征是：其包括一半导体开关、第一限流元件、第一光电耦合器、一整流器件、一电容，所述半导体开关的控制端通过所述第一限流元件与所需检测的信号源连接，工作电源通过所述整流器件为所述电容充电，所述电容通过所述第一光电耦合器的控制端、所述半导体开关形成放电回路，所述第一光电耦合器输出检测信号。
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