[实用新型]太赫兹亚波长分辨成像装置

摘要

本专利公开了一种太赫兹亚波长分辨成像装置。本专利针对现有技术存在的问题，提供一种太赫兹波近场探测亚波长分辨成像装置，将太赫兹波近场成像的空间分辨率提高到优于0.02λ量级，提高近场成像质量，拓展太赫兹近场成像技术的应用领域。该成像装置包括控制电脑，0.15‑0.5THz可调频太赫兹固态倍频源，离轴抛物面镜，PE聚焦镜，聚四氟乙烯样品池，PET保护片，线列太赫兹探测器，聚氨酯吸收层，前置放大器及读出电路，AD转换器等部分。本专利应用于太赫兹成像技术领域。

主权项

一种太赫兹亚波长分辨成像装置，包括控制电脑(1)，微波源(2)，0.15‑0.5THz可调太赫兹固态倍频源(3)，离轴抛物面镜(4)，PE聚焦镜(5‑1)、(5‑2)，聚四氟乙烯样品池(6)，样品层(7)，线列太赫兹探测器(8)，氧化铝衬底片(9)，聚氨酯吸收层(10)，前置放大器及读出电路(11)，PET隔离片(12)，AD转换器(13)其特征在于：所述的线列太赫兹探测器(8)为碲锌镉衬底的64×1元的碲镉汞探测器件，包括碲镉汞敏感元(8‑1)和耦合天线(8‑2)，各探测单元位于氧化铝衬底片(9)的上方，通过前置放大器及读出电路(11)中的选择芯片使线列器件各单元器件的信号逐个读出，锁相放大器对太赫兹探测器在微波源调制频率基频进行锁相放大而提取出太赫兹波近场信号；所述的耦合天线(8‑2)为在器件两侧对称分布的扇形天线，分别与器件两侧接触，中间部分为碲镉汞探测器件敏感元(8‑1)；天线总尺寸不超过工作的波长的0.2倍，碲镉汞探测器件敏感元(8‑1)长度不超过探测波长的0.02倍；所述的线列太赫兹探测器(8)下表面的PET隔离片(12)紧贴着被测样品层(7)的上表面，距离样品层不超过待测波长的0.1倍；被测样品上表面透射的太赫兹波通过线列太赫兹探测器(8)接收。