[实用新型]芯片封装器件有效
申请号: | 201720104099.9 | 申请日: | 2017-01-25 |
公开(公告)号: | CN206639791U | 公开(公告)日: | 2017-11-14 |
发明(设计)人: | 于德泽;张万宁 | 申请(专利权)人: | 新加坡有限公司 |
主分类号: | H01L23/31 | 分类号: | H01L23/31;H01L23/538;H01L25/18;H01L21/56;H01L21/768 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 | 代理人: | 王仙子 |
地址: | 新加坡兀兰1*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本实用新型提供了一种芯片封装器件,包括基板,形成于所述基板上的多个间隔排列的第二粘接层;多个芯片,分别位于所述第二粘结层上,所述芯片与所述第二粘结层一一对应;位于所述基板上且包围所述芯片四周的塑封层;位于所述塑封层以及所述芯片上的绝缘层;位于所述绝缘层内的开孔,所述开孔延伸至所述芯片;在所述开孔内形成的金属导体层以及芯片之间的互连电路;采用本实用新型所述的芯片封装器件,能够减小芯片之间的距离,最终减小终端产品的面积,有利于实现终端产品的小型化。 | ||
搜索关键词: | 芯片 封装 器件 | ||
【主权项】:
一种芯片封装器件,其特征在于,包括:基板,形成于所述基板上的多个间隔排列的第二粘接层;多个芯片,分别位于所述第二粘结层上,所述芯片与所述第二粘结层一一对应;位于所述基板上且包围所述芯片四周的塑封层;位于所述塑封层以及所述芯片上的绝缘层;位于所述绝缘层内的开孔,所述开孔延伸至所述芯片;在所述开孔内形成的金属导体层以及芯片之间的互连电路。
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