[实用新型]一种工件形貌的测量系统有效
| 申请号： | 201720116362.6 | 申请日： | 2017-02-08 |
| 公开（公告）号： | CN206479145U | 公开（公告）日： | 2017-09-08 |
| 发明（设计）人： | 邹如飞;王喆 | 申请（专利权）人： | 邹如飞;王喆 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24;G01S17/48 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100029 北京市朝*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种工件形貌的测量系统，包括基座，数据处理装置，以及至少一个激光测距仪；基座上设置有置物台，置物台用于放置待测工件；激光测距仪与数据处理装置电连接；激光测距仪能够对置物台上的待测工件的表面进行扫描，测量待测工件的表面上各点与基准位置的距离数据并发送至数据处理装置；数据处理装置对所述待测工件的表面上各点与基准位置的距离数据进行处理，重构出待测工件的表面形貌。本方案将对于待测工件的表面形貌的测量细化为对于待测工件的表面上的各个点的距离信息的测量，解决了对于待测工件整体进行测量难度大的问题，且用于进行距离信息的测量的激光测距仪具有测量精度高的特点，有助于得到较为准确的工件表面形貌的测量结果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 工件 形貌 测量 系统 | ||
【主权项】：
一种工件形貌的测量系统，其特征在于，包括：基座，数据处理装置，以及至少一个激光测距仪；基座上设置有置物台，置物台用于放置待测工件；激光测距仪与数据处理装置电连接；激光测距仪能够对置物台上的待测工件的表面进行扫描，测量待测工件的表面上各点与基准位置的距离数据并发送至数据处理装置；数据处理装置对所述待测工件的表面上各点与基准位置的距离数据进行处理，重构出待测工件的表面形貌。
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