[实用新型]一种电子元器件测试系统有效

专利信息
申请号: 201720127042.0 申请日: 2017-02-13
公开(公告)号: CN206533549U 公开(公告)日: 2017-09-29
发明(设计)人: 何纪法 申请(专利权)人: 绍兴宏邦电子科技有限公司
主分类号: H04R29/00 分类号: H04R29/00
代理公司: 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙)11350 代理人: 汤东凤
地址: 312000 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 实用新型公开了一种电子元器件测试系统,包括底座,所述底座上开设有存储滑槽,所述存储滑槽内安装有电子元器件存储板,所述电子元器件存储板上开设有电子元器件存储凹槽;所述底座上安装有支撑架,所述支撑架上安装有气缸,所述气缸与气缸推杆相连,所述气缸推杆与检测底板相连,所述检测底板上开设有调节滑槽,所述调节滑槽内分别安装有第一滑块、第二滑块、第三滑块,所述第一滑块与第一测针相连,所述第二滑块与第二测针相连,所述第三滑块与第三测针相连。本实用新型所述的一种电子元器件测试系统,其结构简单,使用方便,能够测试不同型号的咪头电子元器件,且测试准确性高。
搜索关键词: 一种 电子元器件 测试 系统
【主权项】:
一种电子元器件测试系统,其特征在于:包括底座(1),所述底座(1)上开设有存储滑槽(2),所述存储滑槽(2)内安装有电子元器件存储板(3),所述电子元器件存储板(3)上开设有电子元器件存储凹槽(4);所述底座(1)上安装有支撑架(11),所述支撑架(11)上安装有气缸(12),所述气缸(12)与气缸推杆(13)相连,所述气缸推杆(13)与检测底板(14)相连,所述检测底板(14)上开设有调节滑槽(15),所述调节滑槽(15)内分别安装有第一滑块(21)、第二滑块(22)、第三滑块(23),所述第一滑块(21)与第一测针(24)相连,所述第二滑块(22)与第二测针(25)相连,所述第三滑块(23)与第三测针(26)相连,所述第一滑块(21)与第二滑块(22)之间的调节滑槽(15)内安装有第一限位块(27),所述第二滑块(22)与第三滑块(23)之间的调节滑槽(15)内安装有第二限位块(28),所述第三滑块(23)与第一滑块(21)之间的调节滑槽(15)内安装有第三限位块(29)。
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