[实用新型]腐蚀速度测量仪有效

专利信息
申请号: 201720172699.9 申请日: 2017-02-25
公开(公告)号: CN206479438U 公开(公告)日: 2017-09-08
发明(设计)人: 范磊;关继业;陈秋烨 申请(专利权)人: 范磊
主分类号: G01N17/02 分类号: G01N17/02
代理公司: 大庆市远东专利商标事务所23202 代理人: 周英华
地址: 163000 黑龙江省大庆市萨尔*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 实用新型的腐蚀速度测量仪属于测量测试仪器,包括MCU主控单元、恒电位单元和三电极传感器,所述的三电极传感器联接至恒电位单元,恒电位单元联接至直流信号测量单元和交流信号测量单元,直流信号测量单元和交流信号测量单元均联接至MCU主控单元,MCU主控单元分别联接至直流施加单元和交流施加单元,MCU主控单元、直流施加单元和交流施加单元均联接至恒电位单元。本仪器运用交流阻抗技术,对腐蚀体系施加高频正弦信号,高频信号可穿过金属和腐蚀介质之间所形成的电化学双电层电容,使得施加的高频信号全部作用在介质电阻上,由此可准确的测得腐蚀体系的介质电阻Rs。从线性极化所测得的极化电阻中减掉介质电阻得到实际的极化电阻值,从而准确的获得腐蚀速率。
搜索关键词: 腐蚀 速度 测量仪
【主权项】:
腐蚀速度测量仪,包括MCU主控单元、恒电位单元和三电极传感器,其特征在于三电极传感器的输出端联接至恒电位单元,恒电位单元的输出端分别联接至直流信号测量单元和交流信号测量单元,直流信号测量单元和交流信号测量单元的输出端均联接至MCU主控单元,MCU主控单元的输出端分别联接至直流施加单元和交流施加单元,MCU主控单元、直流施加单元和交流施加单元的输出端均联接至恒电位单元。
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